多个波叠加时，每一波相位波加强的部分中相互匹配，其中，通过利用破坏性在相位反转的部分，波长（频率）和测量相位差的技术。利用此原理的设备主要称为干涉仪。
光学干涉仪是一种利用光的干涉现象来测量长度、厚度、折射率等物理量的仪器。它的工作原理是利用光的波动性和干涉现象，通过比较光程差来测量被测量体的长度或厚度等物理量。
光学干涉仪的基本组成部分包括光源、分束器、反射镜、光程差调节器和检测器。在工作时，光源发出的光线经过分束器分成两束光线，经反射镜反射后再汇合。当两束光线汇合后，由于光的波动性，它们会产生干涉现象，形成干涉图样，通过观察干涉条纹的形态和移动情况，可以计算出被测物体的长度或厚度等物理量。
光学干涉仪的应用非常广泛，比如在工业生产中用于测量机械零件的长度和厚度、在材料研究中用于测量材料的折射率和厚度、在生物医学中用于测量细胞和组织的长度和厚度等等。
