激光二极管有一大部分的应用于光通讯与电信工业的范畴内，如光收发器(Transceiver) 等产品在组装前若能了解每颗激光二极管的特性或与直接测试光纤的耦合后的特性，能减低产品的失败率。Chroma 58620测试系统中含有自动对焦系统(Auto alignment)，可搭配不同种类的光纤与Focuser进行激光光大功率点耦合并测试，当激光光达一定程度的耦合效率时，系统搭配光谱分析仪(OSA) 进行分析了解激光二极管共振膜态，主次模比(Side Mode Suppression Ration) 以及波长分析(Peek wavelength) 等；此外，利用光学辅助定位的原理(AOI) 使得Focuser快速达到激光发光区(Emission Region) 并进行搜寻大发射功率点可加速测试，大幅减低光纤耦合调校时间与测试人力。
Chroma 58620藉由多年在半导体IC测试的经验与技术，发展共享载具与更换治具等概念并应用于激光二极管产业。传统在激光二极管前段测试过程中，需经过多次的老化测试(Burn-In) 与特性检测制程(Characterization)，在更换载具的过程中常会损坏待测物减低良率，共享载具的好处可让研发或操作员只需要在D一次将激光二极管放置于载具中，即可在不接触待测物之下完成所有必要的检测，此设计亦可搭配Chroma 58601老化测试机。然而，激光二极管的形式(Form Factor) 于各家设计皆有所不同，而58620更换治具(Change Kit) 的概念可符合世界上大多激光二极管的封装形式进行修改后即马上可进行量测，目前可使用的形式为Chip on carrier， Chip on sub-mount，Laser-bar等。
主要特色：
全自动化检测边射型激光半导体芯片
高精密及高容量载具设计
自动光纤耦合测试对位设计(Auto-alignment)
AOI辅助定位，加速测试时间
共用载具设计可搭配烧机测试
高精密TEC温度控制，稳定度达0.01℃
搭配Chroma PXI-Base SMU/Power meter
软体分析激光特性: Ith，Rs，Vf，Slope Efficiency，λp等
