PXUT-330N探伤仪双晶探头调试方法
双晶探头调试方法：
所选探头和试块如下：
1．双晶探头：5P20FG F10
2．试块：阶梯试块
现简要介绍以上功能的实现步骤。
一． 开机
开启仪器电源开关，按<¿>键进入探伤界面，将探头分别与仪器的收发端连接，使仪器处于正常工作状态。
二．选择通道号
按<通道>键，在“通道”调节状态下再按<＋>或<－>键，选择某一通道。
三．参数清零
直接按初始化的快捷键（或者按<设置>键，选择“1 功能菜单”，再选“0 初始化”），选择“1当前通道”，清除当前通道。
四．设置参数
在设置菜单中，设置探头类型为“双晶探头”，探头频率为5MHz，晶片尺寸为20.0，按<确定>键退出菜单。
五．调试
（一）测零点（测声速）
按<零点>键，选“1.自动测试”。预置工件声速为“5900m/s”，一次回波声程输入12mm，二次回波声程为24mm，（或选择与探头焦点深度相近的试块上两处底波作为一次声程与二次声程），按<确定>键开始测试。将探头放置于阶梯试块上深12mm处。由于双晶探头零点较长，目标回波可能不在门内，甚至不在屏幕显示范围内，此时可调节门位或声程，使回波处于门内，再按<返回>键恢复零点测试状态。当其一次回波出现在进波门内时确认，稳住探头不动，等12mm处二次回波上升至80%时（一般二次回波已预置在门内）再次确认。
（二）双晶探头DAC
如需制作DAC曲线，在零点声速测完后，按<DAC>键，根据相应参考试块制作。一般是由薄至厚顺序制作，方法参见斜探头DAC法。
注： 双晶探头存在焦点深度，测零点声速时注意选取与焦点深度接近的试块作为一次声程，否则测得的零点声速误差可能较大。
因为焦点附近的回波最高，由薄至厚制作DAC曲线，所做出曲线与常规斜探头DAC曲线形状有可能不同，可能呈山峰状。
8-4
辅助功能使用举例：
我们利用8-1所示的探伤条件简要说明一些辅助功能的用法和效果可参照第六章，以便有更深了解。
我们先设定一些参量，进波门位（A门位）为8mm，进波门宽（A门宽）为54mm，进波门高（A门高）为41%，调节增益使DAC（评定线）/AVG曲线在最大探测深度（或垂直或水平）处高为40%，对这些参量或其它参量也可根据实际情况自行设定。
一．深度补偿
该功能启用后，DAC曲线将变成直线，当探头在工件上扫查时，如果有缺陷，那么该回波将得到补偿。例如：补偿 深度处一缺陷波高为80%、当量值为-3dB，50mm深度处(二次波)一缺陷波高仅为5%、但当量值也为-3dB（波高太低很可能会被漏检）,但在补偿后它们的波高都会是80%，使漏检的可能性大大降低。参见6-6。
二．门内报警
在合理设定门高后，该功能可以用声音来提醒使用者注意进波门内出现的缺陷波。选用斜探头探伤时可将失波门高调为0%，但如果是用直探头探伤，失波门报警的作用将大大加强，它可以提醒使用者注意没有缺陷回波但也没有工件底波（或底波过低）时的情况，而这种情况往往是由于存在大缺陷引起的。参见6-4
三．回波包络和峰值记忆
这两项功能有助于使用者寻找缺陷的最高波，判断缺陷的性质；并且包络线或峰值及其参数可以存储，以供报告之用。在使用包络功能时，进波门不要太宽，否则会影响包络线的显示。参见6-2、6-3。
