得到良好清洁的实验室天平可以避免残留物污染对天平的影响，进而保证通过该天平能够持久地获得准确的称重结果。通常，在实验室中都会制订面向实验室天平清洁的标准操作规程 (SOP) ，以帮助用户正确与合规地清洁实验室电子天平。
本文展示了一项关于实验室天平清洁重要性的全行业调查结果，并就如何确保称量结果的准确性和清洁过程的合规性提供了专业的建议。同时，本文以赛多利斯Cubis® II大量程微量天平为例，揭示了实验室天平日常清洁的正确步骤以及赛多利斯为用户提供的前沿清洁体验。
清洁实验室天平的重要性
实验室天平的清洁不仅能够保证天平自身免受残留样品的污染，同时也对持续保障良好且准确的称重结果至关重要。在实验室中，实验室天平的清洁通常也应是其标准操作程序（SOP）的一部分，以确保整个清洁过程的合规。
经过一项全行业的调查，53%的用户认为天平的清洁是实验室的重中之重。但实际上，只有28%的实验室会每天执行天平的清洁，15%的实验室没有对天平清洁情况进行追踪并记录，另外只有11%的实验室有正式的天平清洁SOP。
实验室天平清洁目前面临的挑战
样品洒落（无论是液体还是固体）是需要清洁天平的首要原因；
秤盘下方被认为是实验室天平最难清洁的部分；
受访者强调希望电子天平的部件能够进行拆卸，以便更容易清洁天平；
80% 的受访者表示，希望电子天平上有一个引导完成清洁过程的指导性工作流程，这样会对日常的天平清洁很有帮助。
实验室天平日常清洁的正确打开方式
01 准备工作
从清洁工具包中取出工具
准备擦拭软布和清洁剂（建议使用水或70%乙醇）
02 电子天平的拆卸和清洁
取下称盘，用刷子沿一个方向进行清洁，避免将洒落的样品扫入部件间的缝隙中
用软刷或蘸有清洁剂的擦拭软布擦拭底板，确保无残留物后，将底板和秤盘重新放置回指定位置进行复原
*建议至少每季度或者在发生样品严重洒落时进行一次深度清洁
新一代 Cubis® II大量程微量天平具有内置清洁应用程序，可帮助并引导用户完成清洁过程，从而简化用户的清洁流程。
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赛多利斯Cubis® II大量程微量天平可实现高度自由的免工具部件拆卸和组装，从而使部件和难以触及区域的清洁工作变得简单易行。
每台Cubis® II MCA 大量程微量天平都装有清洁应用程序，其内置清洁SOP引导功能使清洁过程更加直观、简便。
结合QApp制药软件包，清洁完成后可进行电子签名，从而简化清洁过程的监管与记录难度，使得实验室天平的清洁记录成为合规性或SOP 的一部分。
Cubis® II大量程微量天平的清洁方法
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