镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域，是控制和产品质量不可少的检测仪器。
工作原理：
镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
影响测量精度的原因有：
(1)覆盖层厚度大于25µm时,其误差与覆盖层厚度近似成正比；
(2)基体金属的电导率对测量有影响,它与基体金属材料成分及热处理方法有关；
(3)任何一种测厚仪都要求基体金属有一个临界厚度,只有大于这个厚度,测量才不会受基体金属厚度的影响；
(4)涡流测厚仪对式样测定存在边缘效应,即对靠近式样边缘或内转角处的测量是不可靠的；
(5)试样的曲率对测量有影响,这种影响将随曲率半径的减小明显地增大；
(6)基体金属和覆盖层的表面粗糙度影响测量的精度,粗糙度增大,影响增大；
(7)涡流测厚仪对妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感.因此测量前应清除测头 和覆盖层表面的污物;测量时应使测头与测试表面保持恒压垂直接触。
