1 目的与适用范围
1.1 本方法适用于测定集料的平均厚度，用于碎石封层等计算确定集料撒布量或沥青 结合料用量。
1.2 厚度仪法适用于直接测定各规格集料平均厚度。
1.3 片状仪适用于间接测定4.75mm通过率不大于15%集料平均厚度。
2 仪具与材料
2.1 厚度仪：两块厚度不小于5mm、宽度不小于10mm 的金属板，两块金属板通过夹具 固定，使两块金属板平行、且板间隙在0~30mm 可调。高度分别为2mm 、3mm…27mm 的 高度块，共计26块，精度为0.2mm, 可采用内径游标卡尺代替高度块，也可采用满足本试
验要求的其他形式厚度仪。
2.2 片状仪：钢质基板厚度3mm, 基板上有5个槽孔，孔长度不小于50mm, 宽度应符
合表T0367-1 的要求。
表T0367-1粒级划分及其相应的片状仪孔宽度
粒级(mm) | 4.75～6.3 | 6.3~9 | 9.5~13.2 | 13.2～19 | 19～26.5 |
孔宽度(mm) | 3.3±0.1 | 4.7±0. | 6.8±0.1 | 9.7±0.2 | 13.7±0.2 |
2.3 天平：感量不大手试样质量的0.1%.
2.4 试样筛：我为2,36mm、4.25mm 、6.3mm 、9.5mm 、16mm 、19mm、26.5mm 方孔筛，
相关要求同T0302 中2.1。
3 厚度仪试验步骤
3.1 将来样用2.36mm 、26.5mm试验筛仔细过筛，取2.36～26.5mm 颗粒不少于100
颗为一份试样。
3.2 采用高度块或游标卡尺控制，调整厚度仪间隙为2mm, 将试样逐粒进行检验，记
录通过该间隙的颗粒个数，记为n₁, 其颗粒厚度a₁ 为1 . 5mm; 收集未通过间隙的颗粒。
3.3 调整厚度仪间隙为3mm, 按照3.2方法再逐粒进行检验，记录通过该间隙的颗粒 个数，记为n₂, 其颗粒厚度a₂ 为2 . 5mm; 收集未通过间隙的颗粒。
3.4 重复以上步骤，直至测定厚度仪间隙为27mm, 记录通过该间隙的颗粒个数，记为
nz₆,其颗粒厚度az₆为26.5mm. 此时应再无剩余颗粒。
4 片状仪法测定平均厚度试验步骤
4.1 将来样用4.75mm试验筛仔细过筛，取筛上试样缩分至表T0367-2 要求质量的试 样一份，烘干或室内风干后备用。
表T0367-2 片状仪法测定平均厚度试验所需的试样质量
公称最大粒径(mm) | 6.3 | 9.5 | 13.2 | 16 | 19 | 26.5 |
一份试样的最小质量(kg) | 0.15 | 0.2 | 0.4 | 0.5 | 1.0 | 1.7 |
4.2 称量一份试样质量(m₀), 根据表T0367-1 所规定的粒级按T0302 干筛法进行充 分筛分。
4.3 按表T0367-1 所规定的粒级分别用片状仪逐粒检验，凡颗粒厚度小于片状规准 仪上相应孔宽的，为片状颗粒。
4.4 称出由各粒级挑出的片状颗粒的总质量(mi)。
4.5 按 T0302 方法取样测定样品的级配，绘制筛孔-通过率曲线，从图中确定50%通
过率对应的筛孔为集料的中位粒径应，精确至0.1mm。
5 计算
5.1 厚度仪法测定的集料平均厚度按式(T0367-1) 计算，精确至0.1mm。
(T 0367-1)
式中：ALD—集料平均厚度(mm);
n_ 第 i个间隙通过的集料颗粒数；
a₁——第 i 个间隙对应平均厚度，为相邻间隙平均值(mm)。
5.2 片状颗粒含量按式(T0367-2) 计算，精确至0.1%。
(T 0367-2)
式中：FI——片状颗粒含量(%);
m—— 试样中片状颗粒的总质量(g);
m₀——试样总质量(g)。
5.3 片状仪法测定的集料平均厚度按式(T0367-3) 计算，精确至0.1mm。
式中：M,——集料的中位粒径(mm)。
6 报告
6.1 试验项目名称、试验方法和执行标准。
6.2 样品的编号、名称、产地和规格。
6.3 接样日期、样品描述。
6.4 试验日期、样品缩分方法。
6.5 平均厚度、片状颗粒含量、中位粒径试验结果。
6.6 要说明的其他内容。
条文说明
1.1 平均厚度是碎石封层确定集料撒布率、沥青结合料用量的重要指标，针片状颗 粒含量、破裂颗粒含量和棱角性试验是评价粗集料颗粒形状的三个指标，是反映集料加工
特性的重要指标。
1.2 厚度仪法是直接测定各颗粒的大致厚度，然后计算厚度的算术平均值。此方法
为集料平均厚度试验标准方法。
1.3一片状仪法是先测定片状颗粒含量和级配中位粒径，通过统计回归公式计算集料 平均厚度。其测定片状颗粒含量与 T0311 方法类似，但是确定片状的标准不同，T0311 中片状颗粒是指最大厚度与该颗粒相应粒级的平均粒径之比小于0.4的颗粒；本方法中 片状颗粒是指最大厚度与该颗粒相应粒级的平均粒径之比小于0.6的颗粒。
