X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。其原理是用X光激发源照射待分析的油样，样品中硫元素的内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出硫元素的特征 X 光。检测器(Detector)接受这些硫元素的特征X光信号，仪器软件系统将其转为对应的测试强度。用标准物质样品建立特征X射线强度与硫含量之间的关系，也就是标定曲线。在建立了硫元素不同含量范围的标定曲线后，再去测试未知样品，便可快速分析石油及其他液体中的硫含量。
参考样和待测样品被置于同一载样台板上。当取样孔可以取样时，参考样位于测量位置，此时显示屏右下角有：“参考样位于测量位置”字样，当挡板盖住取样孔时，待测样位于测量位置，此时显示屏左下角有：“待测样位于测量位置”字样。
样品台板只能处于测“参考样”位置或测“待测样”位置，不能处于其它任何中间位置，处于其它位置仪器将报警，也不能正常工作。
仪器在不测含量时，载样处于测“参考样”位置。仪器自动对参考样采样，且采用当前的数据平均值，供仪器测量含量时使用，这样仪器一直处于等待状态，放入待测样就可以分析。
