XRF光谱分析仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。可以执行快速且准确的完整无损分析，并可用于测试多种元素。可通过该技术快速获知样品中存在的具体元素，并利用校准得知元素的具体占比。
XRF光谱分析仪主要由激发源(X射线管)和探测系统构成。激发源产生入射X射线(一次X射线)，这些射线照射到被测样品上，与样品中的原子发生相互作用，使得样品产生荷电粒子和X射线的散射辐射(二次X射线)。探测器对产生的X荧光(二次X射线)进行检测，测量其能量和数量。仪器软件将探测系统收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
该设备测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，可以在数秒到几分钟内完成样品中全部待测元素的测定。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象，因此同一试样可反复多次测量。
本公司提供的xSORT XRF光谱分析仪具有超高速元素分析能力的手持式X荧光光谱仪，可满足多种金属基体材料以及土壤，塑胶，矿石等多种复杂材料的光谱化学成分分析需要。
