HAST加速老化试验箱（Highly Accelerated Stress Test Chamber）是一种用于模拟加速老化环境的实验室设备，主要用于评估电子元器件、半导体芯片、以及其他材料在高温、高湿和高压条件下的性能和耐久性。
一、原理：
1.高温：HAST试验箱通过设定高温（通常为130℃），来加速材料的老化过程。高温可以加速化学反应和物理变化，模拟产品在长时间使用中的老化情况。
2.高湿：试验箱内部的相对湿度通常设定在85%左右，这种高湿度条件可以加速潮气通过外部保护材料或芯片引线周围的密封封装，从而评估产品在高温高湿环境下的耐湿性能。
3.高压：HAST试验箱在受控的压力容器内增加大气压力，通常可以达到3 atm或更高，以实现超过100℃的温湿度控制。这种压力的增加可以加速温湿度对材料的老化效果，如材料的迁移、腐蚀、绝缘劣化等。
4.偏置电压（bHAST）：在某些HAST试验中，除了高温、高湿和高压条件外，还可以对样品施加偏置电压，模拟在实际使用中可能遇到的电应力，以评估电子元件在电应力下的耐久性。
5.非饱和蒸汽测试：HAST试验箱通常指相对湿度为85%的非饱和蒸汽测试，与PCT试验箱（通常指100%相对湿度的饱和蒸汽测试）不同，HAST试验箱通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压力的各种条件来完成测试。
HAST加速老化试验箱广泛应用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关产品的加速老化寿命试验。
以上关于HAST加速老化试验箱的概念及原理的介绍。
