工作范围在可见光，近红外以及短波红外的电子成像探测器生成的二维电子图像在工业，国防，安全，科研，环保，医疗等领域有着重要的应用。工作范围在VIS/NIR波段的成像探测器几乎全部基于硅材料的技术：彩色或者单色制式的CCD, CMOS. ICCD, EMCCD, EBAPS, sCMOS等。彩色VIS/NIR探测器的工作波段只局限于可见光波段而单色VIS/NIR探测器的工作波段则可以达到1000nm。
InGaAs成像探测器的工作范围在SWIR波段：非制冷类型工作在900nm-1700nm；制冷类型工作在1000nm到约2200nm以及特殊的带宽从600nm到1700nm。
Inframet提供一组三套用于测试VIS-SWIR成像探测器的测试系统：VIT，SIT和SOL。
这些测试系统的设计理念和测试能力有所不同。 简单来说，可以认为VIT是一套在VIS-SWIR范围内对几十个带宽进行连续调节光强的图像投影系统; SIT是一套可以连续调节光强和波长的标定光源; SOL是一套连续调节光强度和步进调节带宽的标定光源。
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VIT测试系统主要用于测试VIS-NIR光谱范围内十几个光带宽的成像质量参数，辐射参数和光度学参数; SIT测试系统主要用于测试在VIS-SWIR范围内连续调节波长的辐射参数; SOL测试系统主要用于测试在VIS-SWIR范围内的光度学参数与步进调节波长下的辐射参数。
