X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光（XRF）用短波长X射线照射材料，测量产生的特征X射线来测定材料的化学成分的一种分析设备。
荧光X射线光谱仪可以以数ppm的灵敏度检测特定元素，并在不损坏测量目标的情况下快速进行主成分的定量分析。分析设备的类型多种多样，从大型、高灵敏度和精确的设备到可以随身携带并在几秒钟内完成分析的便携式设备，您可以选择
您的目的的设备。
由于X射线荧光光谱仪可以轻松检测金属元素，因此常用于检测产品中的异物以及确定重金属造成的环境污染。此外，由于可以一次分析所有可测量的元素，因此非常适合分析成分未知的物质的组成，并广泛应用于各种研究和调查。
非熟练技术人员也可以使用，并且分析样品的制备很容易或不需要。 X 射线荧光分析具有许多应用，因为它可以非破坏性、快速且轻松地进行化学分析。
关注速度的分析示例如下。
土壤、工业废弃物、回收产品等中含有的有害元素检测
电子材料及元件中的杂质分析
金属材料、岩石、矿石、水泥、玻璃等成分分析
植物中金属、磷、硫等分析
食品和食品容器中的异物或残留添加剂分析
利用无损分析优势的应用如下。
珠宝、艺术品、文化财产、考古发掘、证据等鉴定
机场和海关的行李检查
X射线荧光光谱仪可以在短时间内同时测量几乎所有比镁重的元素。可以对固体和液体进行无损分析，如果使用手持设备，则可以随身携带它到任何地方，只需将设备压在待分析物体上几秒钟即可完成测量。
X射线荧光光谱仪不擅长检测轻元素，不适合分析有机物的主要构成元素氢、碳、氮、氧。此外，只能测量元素的存在和数量，但不可能确定元素的组合。
例如，如果检测到铁，则无法确定它是金属铁还是氧化铁，因此即使检测到钾和氯，也无法断定存在
在X射线荧光分析中，物质中所含的每种元素都会产生多种特征X射线，因此需要一种装置使用适当的方法将它们分离并分别测量它们的强度。根据检测 X 射线的方法，有两种类型的设备。它们是波长色散 (WDX) 和能量色散 (EDX)。
这是一种使用分光元件将 X 射线分离成波长并将其引导至探测器的设备。该探测器仅测量目标特征X射线的强度，具有高波长分辨率和优异的测量灵敏度和精度。
然而，测量样品的表面必须光滑，并且分光元件和探测器必须精确旋转，使得设备大型且昂贵。
荧光X射线直接进入探测器，接收到的信号在设备内部进行电处理以探测特征X射线。尽管分辨率、灵敏度和准确度不如波长色散类型，但它们需要的分析时间更少，更容易处理，而且更便宜。另外，由于易于小型化，即使表面凹凸也能进行测量，因此有手持式等多种产品在销售。
原则上，X射线荧光分析仪可以测量从铍（原子序数4）到镅（原子序数95）范围内的元素的特征X射线。然而，轻元素的特征X射线强度太弱，因此很难分析比原子序数为12的镁更轻的元素。
只需将荧光X射线设备检测到的特征X射线与现有数据进行比较，就可以确定样品中含有哪些元素。这称为定性分析，但需要额外的努力来进行定量分析以确定每种元素的含量。
标准曲线法
为了进行准确的定量分析，使用通过测定元素含量已知的多种物质（标准样品）的特征X射线强度而制作的标准曲线。测量待分析样品的相同特征 X 射线的强度，并通过查看其落在校准曲线上的位置来确定元素含量。
FP（基本参数）方法
如果您没有标准样品或不想经历创建校准曲线的麻烦，请使用 FP 方法。 FP法是仅利用待分析样品的特征X射线强度从理论上估计样品成分的方法，它比使用校准曲线更简单，但精度较低。
如果您需要分析精度和灵敏度，请选择波长色散设备；如果您需要简单性和速度，请选择能量色散设备。另外，由于X射线荧光分析使用X射线，私营企业在引进设备时必须至少提前30天通知劳动基准监督署。根据设备类型，可能需要 X 射线操作主管，因此我们建议在安装设备之前咨询制造商。
