随着光通信行业的核心组件光模块迈向800G/1.6T的时代，光模块的通道数量逐渐增加，同时，随着硅光技术的发展，器件密度也显著提高。这为光电器件或硅光芯片的测试要求，比如激光器和调制器的LIV扫描测试带来了更高的挑战，需要测试设备具备更高的通道密度、更小的体积、更快的测试速度以及更高的测量精度。
PXI平台提供高精度和高通道密度的SMU源表，可以满足硅光芯片和光电器件DC测试需求。结合配套的Optoelectronic Component Test Software，实现快速的测试开发和部署，加速产品上市时间。
PXI平台同时支持丰富的光学仪器仪表，可覆盖硅光芯片的典型测项。通过进一步的集成搭建更紧凑、高效协同的光模块测试系统。
