【实验背景】
置于磁场中的载流体，如果电流方向与磁场垂直，则在垂直于电流和磁场的方向会产生一附加的横向电场，称为霍尔效应。
如今，随着半导体物理学的迅速发展，霍尔系数和电导率的测量已成为研究半导体材料的主要方法之一。霍尔效应不但是测定半导体材料电学参数的主要手段，而且随着电子技术的发展，利用该效应制成的霍尔器件，由于结构简单、频率响应宽(高达10GHz)、寿命长、可靠性高等优点，已广泛用于非电量测量、自动控制和信息处理等方面。
【实验目的】
1． 通过实验掌握霍尔效应基本原理，了解霍尔元件的基本结构；
2． 学会测量半导体材料的霍尔系数、电导率、迁移率等参数的实验方法和技术；
3． 学会用“对称测量法”消除副效应所产生的系统误差的实验方法。
4． 学习利用霍尔效应测量磁感应强度B及磁场分布。
【实验仪器】
霍尔效应测试仪用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试仪是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必*的工具，主要用于测量电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或固体材料均可。
