透射电镜力电原位系统通过MEMS(微机电系统)芯片在原位样品台内构建力、电复合多场自动控制及反馈测量系统。该系统结合了多种透射电镜(TEM)的分析模式，以实现对样品在真空环境下随电场、施加力变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化的实时监测，能够为研究纳米尺度材料及器件提供电学性能分析支撑。
透射电镜力电原位系统的应用如下：
1.材料科学：用于研究材料的晶体结构、晶格缺陷、晶界和界面，以及材料的相变和相互作用。这对于新材料的开发与性能优化具有重要意义。
2.纳米科学与纳米技术：对于纳米材料的结构和行为研究具有关键作用，能够揭示纳米材料的特殊性质和潜在应用。
3.能源研究：在电池材料、催化剂等能源材料的研究中，该系统可用于观察电极和电解质的相互作用，以及材料的性能和寿命变化。
4.生物科学：虽然透射电镜在生物科学中的应用相对较少，但力电原位系统为观察生物样品中的细胞结构、蛋白质等生物分子的形貌和组成提供了新的可能性。
该系统可实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随电场、施加力变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。
