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FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer 基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。多可同时测量从氯（17）到铀（92）中的24 种元素。

XDL 型X 射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。

XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。

X射线测厚仪|X-RAY镀层分析仪|菲希尔X射线光谱仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210典型的应用领域有：

 测量大规模生产的电镀部件

 测量薄镀层，例如装饰铬

 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

 全自动测量，如测量印刷线路板

 分析电镀溶液