薄膜测厚仪试验操作步骤——THI-1801测厚仪

薄膜测厚仪试验操作步骤【厚度测量】

1.摆放试样：将被测样品平整的平铺于测量台面上，保持试样整洁、干净、平整无褶皱。可通过人为挪动试样，进行多点厚度测量。

2.测试原理：薄膜测厚仪采用机械接触式测试方法，是通过位移传感器测试薄膜材料的厚度。

3.进行测量：测试前，仪器的测量头落在设备砧板上，传感器读取测量头的初始位移值，测量头抬起后，将试样放置在砧板纸上，测量头以同样的压力落在试样上，传感器读取测量头的位移值，两次位移值之差则为试样的厚度值。

4.读取结果：测量完成后，测厚仪的显示屏上会显示出测量的厚度值。记录测量结果，包括测量点的位置、日期和时间，以及任何可能影响测量精度的因素。

SYSTESTER思克THI-1801测厚仪用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度，以便了解材料的厚薄规格，各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度；有时则要测定材料表面的覆盖层厚度，以保证产品质量和生产安全。仪器的测试原理为：将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。

测厚是一项重要的检验项目。在厚度检验过程中，影响测量结果准确性的因素较多，在测厚操作中需要特别注意的几个问题。