XRD冷热台是一种用于X射线衍射（XRD）实验的设备，能够在不同温度条件下对样品进行分析。主要用于研究材料在升温或降温过程中的相变、晶体结构变化和热行为等。
主要功能
1.温度控制：XRD冷热台能够在非常广泛的温度范围内（从低温到高温，通常为-190°C至600°C或更高）精确控制样品的温度。这使得研究者可以模拟各种环境条件，如定点低温或高温下的晶体结构行为。
2.原位观测：冷热台允许X射线衍射仪在样品温度变化的同时进行原位测量，研究材料在加热、冷却过程中的相变、晶体结构变化及其他热相关现象。实时监测避免了传统方法中因温度变化后样品转移带来的误差。
3.气氛控制：XRD冷热台可以控制样品周围的气氛，例如在真空、空气、惰性气体或特定的反应气体环境下进行实验。这样可以模拟实际工作条件，如催化剂在反应气氛下的相变行为。
4.精确的温度梯度：冷热台能够提供稳定的升温和降温速率，允许用户对材料进行快速升温或缓慢的热处理实验，从而研究不同温度变化速率下材料的行为。
应用领域
1.材料科学：用于研究材料的热膨胀、相变、热分解等过程，帮助开发和优化新型材料，如高温超导体、功能陶瓷等。
2.地质学：在高温高压条件下，研究矿物的相变行为以及地壳、地幔材料在定点环境下的晶体结构变化。
3.化学与催化研究：催化剂材料在反应条件下的稳定性和结构变化是研究的重要方向，XRD冷热台为此类实验提供了原位分析的手段。
4.物理研究：研究热电材料、磁性材料等的结构变化，以及材料在低温下的超导性研究。
设备结构
XRD冷热台的设备结构主要包括温度控制系统、样品台、数据采集和分析系统以及机械结构。温度控制系统由加热元件和制冷装置组成，用于精确调节样品温度。样品台配备样品夹具和温度传感器，确保样品稳定并实时监测温度，数据采集系统通过计算机进行实验控制和数据分析。最后，机械结构提供支撑和调整机制，确保设备的稳定性和精确性。这些部分的协同工作使XRD冷热台能够有效研究材料在不同温度条件下的热行为和相变特性。
选购参考
简要参数：
•温度范围：-190~600℃ / RT~1200℃
•温度稳定性：±0.1℃（＜600℃）±1℃（＞600℃）
•支持反射/透射模式
•气密腔室，可通保护气体
•腔室可升级真空腔室（10^(-3) mbar）
•上位机软件控制
•支持改动或定制
参数一览表：
