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2024/10/15 10:59:33颗粒破碎强度检测仪NS-A系列介绍
NS-A系列微粒破碎力测量装置是一种可以直接测量用压头施加压力压碎微小颗粒/颗粒时产生的非常微弱的力的装置。可测量的负载最小为 10nN。通过更换检测传感器,现在可以测量 9 个数量级直至 10N 的微小力。在测量颗粒硬度(强度)和颗粒硬度(强度)时,我们实现了易用性和测量精度。
- 可以测量用户指的任何颗粒的破碎力(强度)。
・通过更换传感器,可以进行10nN~10N的大范围测量。
- 能够测量最大 3μm 的颗粒。
- 通过温度控制载物台(可选),载物台温度可控制至150℃。
・高性能隔振台(另售)抑制测量噪音,实现高精度测量。
颗粒被压碎时的运动被记录为视频(标准规格),并且有专用软件用于回放与测量的波形相链接。
适合评价
・粒子粉碎特性的测量
・调色剂随温度变化的粒子强度变化的测量
・原料粉末的质量管理・原材料选择的评价
・电池材料强度的测量
・粒子涂膜的评价
・单个调色剂颗粒强度的测量
・薄膜强度测定
智能负载传感器
根据样品更换载荷传感器,即可测量各种细颗粒、颗粒的破碎力。一键即可更换负载传感器。通过从传感器外部用激光扫描负载检测部分来检测负载。我们实现了宽广的测量检测测量范围,可以容纳各种样品。
规格
专用测量软件(适用于Windows) |
体视显微镜(屏幕最大放大倍数 3000 倍) |
样品台(陶瓷镜面) |
附带专用工具 |
专用电脑 |
金卤光源(80W) |
智能负载传感器测量范围 (6种) | |
10mN~10N | 10μN~1mN |
1mN~100mN | 1μN~100μN |
0.1mN~10mN | 10nN~10μN |
控温阶段高达150℃ | 高性能隔振台 垂直隔振0.5Hz以上,水平隔振1.5Hz以上 |
待测样品 | 3μm~1mm | |
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可测量负载范围 | 10nN ~ 10N 最小分辨率 2nN | |
实测压缩速度 | 100nm/秒~50μm/秒 | |
图像捕捉 | 3ccd摄像机 | |
控温阶段 | 室温~150℃ | |
高性能隔振台 | 垂直0.5Hz(可选) | |
尺寸/重量 | 主体 | 450宽×500高×450深(20公斤) |
控制器 | 320宽×250高×350深(10公斤) | |
电源 | 交流100V 3A |