在光学测量的浩瀚领域，一款较突出的仪器正掀起一场革新风暴，它就是 WPA - 200 相位差测试仪。
WPA - 200 相位差测试仪宛如一座光学测量的智慧灯塔。它采用先进的光子晶体技术，为高精度测量奠定了坚实基础。测量速度之快令人惊叹，仅需 3 秒，即可完成一次测量，极大地提高了工作效率，让您无需漫长等待，快速获取关键数据。
其测量范围广泛，可达 0 - 3500nm（可拓展至 10000nm），几乎涵盖了常见光学材料和元件的测量需求。而且，测量精度堪称，重复精度小于 1nm（西格玛），无论是在光学零件的精细检测，还是对透明成型品的质量把控中，都能精准无误地呈现相位差信息。
这款测试仪的数据呈现方式D具匠心，以二维分布图像的形式将测量数据可视化。这不仅使您可以直观地读取数据，更能通过多种分析功能，如点、线、面、3D 的分析，深入探究样品的相位差分布细节。这就像为您配备了一个光学显微镜，让材料内部的奥秘清晰地展现在眼前。
在应用领域，WPA - 200 相位差测试仪更是展现出其强大的适应性。在光学零件检测方面，对于镜片、薄膜、导光板等，它能精准检测相位差，确保产品质量，保障光学性能的优秀。在透明成型品检测中，无论是车载透明零件还是食用品容器，都能被它敏锐洞察，及时发现应力等因素引起的相位差变化，保障使用安全。在透明树脂材料、透明基板以及有机材料研究领域，它也是的得力助手，助力科研人员深入了解材料特性，推动科研此外，WPA - 200 不含旋转光学滤片的机构，这一设计减少了仪器的维护成本和难度，让仪器更加稳定可靠，如同一位忠实的伙伴，始终陪伴您在光学测量的道路上前行。
无论是光学研究机构、生产制造企业，还是质量检测部门，WPA - 200 相位差测试仪都将成为您开启光学测量新纪元的关键钥匙，引的导您在光学领域探索更多未知，创造更多可能。
