德国X射线荧光镀层测厚及材料分析仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，采用自动方式，测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。
产品简介
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德国X射线荧光镀层测厚及材料分析仪
简介
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能全自动检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
XDL 240 特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
典型的应用领域有：
• 测量大规模生产的电镀部件
• 测量超薄镀层，例如：装饰铬
• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
• 全自动测量，如测量印刷线路板
• 分析电镀溶液
