通过测量tanδ，可以反映出绝缘的一系列缺陷，如绝缘受潮，油或浸渍剂脏污或老化变质，绝缘中有气隙发生放电等。这时，流过绝缘的电流中有功电流分量增大了，tanδ也加大。绝缘中存在气隙这种缺陷，最好通过做tanδ与外加电压的关系曲线tanδ~U 来发现。例如对于电机线棒，如果绝缘老化，气隙较多，则tanδ~U将呈明显的转折。Uc代表较多气隙开始放电时的外加电压，从tanδ增加的陡度可反映出老化的程度。
tanδ是反映绝缘功率损耗大小的特性参数，与绝缘的体积大小无关。如果绝缘内的缺陷不是分布性而是集中性的，则测量tanδ有时反映就不灵敏。被试绝缘的体积越大，或集中性缺陷所占的体积越小，那么集中性缺陷处的介质损耗占被试绝缘全部电介质中的比重就越小，而Ic一般几乎是不变的，故可知，总体的tanδ增加得也越少，这样，测 tanδ法就越不灵敏。对于像电机、电缆这类电气设备，由于运行中故障多数为集中性缺陷发展所致，而且被试绝缘的体积较大，tanδ法效果就差，而套管的体积小，tanδ法不仅可以反映套管绝缘的全面情况，而且有时可以检查出其中的集中性缺陷。
当被试品绝缘由不同的电介质组成，例如由两种不同的绝缘部分并联组成时，因被试品总的介质损耗为其两个组成部分介质损耗之和，且被试品所受电压即为各组成部分所受的电压，可知C2/Cx越小，则C2中的缺陷（tanδ2增大）在测整体的tanδ时越难发现。故对于可以分解为各个绝缘部分的被试品，常用分解进行tanδ测量的方法。例如测变压器 tanδ时，对套管的tanδ单独进行测量可以有利于发现套管的缺陷，否则，由于套管的电容比变压器绕组的电容小得多，在测量变压器绕组连同套管的tanδ时，就不易反映套管内的缺陷。
在通过 tanδ值判断绝缘状况时，仍然需要着重于与该设备历年(相近温度下)的tanδ值相比较以及和处于同样运行条件下的同类型设备相比较。即使tanδ值未超过标准，但和过去比以及和同样运行条件的其他设备比，若tanδ突然明显增大时，就必须认真对待，不然也会在运行中发生事故。
北京航天伟创设备科技有限公司生产的LDJD系列介电常数及介质损耗测试仪，可以测量固体、液体、粉体的介电常数和介质损耗正切tanδ值。
