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显微镜自动对焦:用于设备设计的主动式与被动式方法

仪景通光学科技(上海)有限公司 >> 进入商铺

2024/11/12 15:14:06

Evident向基于显微镜的成像系统制造商供应超多规格的物镜以及其他光学部件,为设备和仪器设计者提供支持。这些组件能帮助工程师们轻松有效地设计高质量的光学检测设备。

此类设计方案的一个重要组成部分是主动式自动对焦技术。当该技术与显微镜的电动Z轴——机械装置、照明系统、物镜和/或数码相机结合使用时,便可实现自动对焦。这些装置使用主动式方法对焦样本,让光学检测系统设计受益良多。


这篇文章将深入探讨主动式自动对焦方法——了解它是什么,比较它与其他方法的优劣,并探究它对于光学检测设备设计(如半导体检测)的主要优势。


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显微镜的自动对焦方法对比:主动式与被动式


一般来说,有两种类型的自动对焦系统:


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图1. 被动式自动对焦方法示意图
使用多点系统开发主动式自动对焦
半导体设计的复杂化或小型化为显微镜检查时的自动对焦带来了新的挑战。布线图案更精细,阶梯结构更复杂。
这些自动对焦的挑战(图2)包括:



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图2. 半导体样本聚焦不稳定的原因:(左)焦点位置的变化和(右)阶梯边缘的散射

为了解决这些问题,我们开发了一种使用多个焦点检测点的主动式自动对焦系统(图3,右)。我们还增添了一个功能,通过移动自动对焦光学系统的中继镜的光轴,将焦点位置偏移到所需的观察位置。这就消除了焦点不稳定的问题(图4和图5)。

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图3. 样本表面对焦检测点对比:(左)单点自动对焦系统,(右)多点自动对焦系统


这种自动对焦技术可以作为一个组件提供,以集成到更大的光学检测设备中。它主要用于半导体检测设备。


图片图4. 焦点位置偏移功能

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(a) 在单点系统中,将样本移到一侧会移动焦点位置

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(b) 在多点系统中,将同一样本移到一侧不会改变焦点位置


图5. 阶梯状样本横向错位与焦点稳定性比较(亮点表示焦点内的检测点)


如果您想详细了解我们的主动式自动对焦产品或将我们的高品质光学组件整合到您的显微镜设计中,请联系我们。


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