概述
从光通信用单模光纤输出端面的 NFP（近场模式）测量光纤的输出光束直径。光源采用1550nm LD光源。 NFP测量光学系统采用我们的高性能NFP测量光学系统M-Scope type S，物镜为M-Plan Apo NIR 100x。使用的探测器是我们的InGaAs高灵敏度近红外探测器ISA041。
测量光通信用单模光纤的NFP应用示例
从光通信用单模光纤输出端面的 NFP（近场模式）测量光纤的输出光束直径。光源采用1550nm LD光源。 NFP测量光学系统采用我们的高性能NFP测量光学系统M-Scope type S，物镜为M-Plan Apo NIR 100x。使用的探测器是我们的InGaAs高灵敏度近红外探测器ISA041。
光束NFP测量装置
光源
FC连接器输出型温控高稳定LD光源（1550nm）LSL002/1550
光学系统
高性能光束 NFP 测量光学系统 M-Scope S 型
2x 中间镜头端口 MS-OP011-RL2
物镜
红外物镜 100x M-Plan Apo NIR 100
探测器
InGaAs高灵敏度近红外探测器ISA041H2
数据处理分析设备
光束分析模块AP013
其他的
用于光纤测量的光学系统安装座，配有手动 3 轴平台 OP002-F3
使用1550nm LD光源的SMF输出端的NFP测量结果如左图和下图所示。
水平10.370um / 垂直10.406um（1/e宽度）
测量条件
总放大倍数：200x（物镜100x x 中间2x）
像素分辨率：0.15um
暗电流校正：有
累计次数：4次
光学系统选择
对于光学系统，我们选择了我们的高性能光束NFP测量光学系统M-Scope type S。另外，由于单模光纤纤芯直径极小，约为10um，因此我们使用了中间2x中继端口。结果，实际观察视场约为48um x 38.4um，像素分辨率为0.15um。
探测器选型
我们的InGaAs高灵敏度近红外探测器在测量波长1550 nm附近的近红外区域具有高灵敏度、线性光输入/输出特性以及对输入光的高耐久性。我选择了ISA041H2。
物镜
物镜为近红外物镜M-Plan Apo NIR 100x，由于测量波长在1550 nm波段，因此在近红外区具有较高的透过率，并且在近红外区进行像差校正。已选择。
我们拥有丰富的光学测量光学设备产品阵容，可应用于光通信、光互连、光电子、新材料、生物技术等各个领域的光学测量。
在光通信、光互连、光电子领域，我们提供各种光学模块，例如光纤和各种激光器的激光光束轮廓仪、各种发光元件的光束轮廓测量、各种传感器和光接收元件的光照射测量用于光电子领域的各种光学应用测量，例如光学器件的光学特性评估测量。
此外，还有一款新产品是支持高功率激光测量的高性能光束轮廓测量光学系统，越来越多地应用于LiDAR和激光头灯等汽车领域、生物识别传感领域和电子领域例如激光投影仪已添加到产品阵容中。可以构建输出约 10W 级激光的高精度激光光束分析仪系统。
| [新增] 2022/3/1 | [新产品]广域扩展型FFP测量光学系统M-Scope型FSWW 与大面积发光元件兼容的广域扩展型FFP测量光学系统M-Scope型FSW于2022年3月1日发布。测量目标光束直径约为4.24mmφ，支持大型发光器件的测量。使用专用的FFP光学系统+图像处理方法，可以进行实时FFP测量。 | M-Scope 类型 FSW |
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 | 用于高性能光学测量的光学系统 M-Scope I 型 | 一种高性能的光学测量光学系统，可用于光照射测量、光接收测量和光束轮廓测量等各种先进的光学应用测量。可以通过添加更多端口等功能进行扩展的旗舰型号。 |
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 | 具有偏振依赖性对策的 高性能光学测量光学系统 M-Scope I/PF 型 | 配备一个端口以防止偏振依赖性。一种高性能的光照射/接收测量光学系统，可减少偏振的影响并实现稳定的测量。 |
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 | 高性能 NFP 测量光学系统 M-Scope S 型 | 用于光束轮廓测量的高性能 NFP 测量光学系统。配备用于切换物镜的手动左轮。支持同轴落射照明端口（可选）。用途广泛的高功能型。 |
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 | 简单的 NFP 测量光学系统 M-Scope L 型 | 用于测量光束轮廓的简单 NFP 测量光学系统。单目规格、非同轴落射照明的低价型号。 |
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 | FFP 测量光学系统 M-Scope F 型 | 用于FFP（远场方向图，辐射角分布）测量的光学系统。使用光学系统+图像处理方法可以进行实时测量。可应用于各种光学器件的辐射角分布和输出NA的测量。 |
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 | 广域型 FFP 测量光学系统 M-Scope 型 FW | 覆盖约 3 mmφ 测量目标光束直径的广域 FFP（远场模式，辐射角分布）测量光学系统。支持大面积发光器件测量。使用专用光学系统+图像处理方法可以进行实时测量。 |
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 | [新产品] 广域扩展型 FFP 测量光学系统 M-Scope 型 FSW | 广域扩展型FFP（远场模式，辐射角分布）测量光学系统，覆盖测量目标光束直径约4.24 mmφ。支持大面积发光器件测量。使用专用光学系统+图像处理方法可以进行实时测量。 |
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 | 红外高分辨率 FFP 测量光学系统 M-Scope 型 FHR | 用于红外的高分辨率 FFP 测量光学系统。与VGA型InGaAs近红外探测器ISA041VH配合使用，可在1310-1550nm光通信波段实现角像素分辨率为0.1°的高分辨率FFP测量。 |
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 | 准直光测量光学系统 M-Scope C 型 | 用于测量准直光平行度的光学系统。以高角分辨率测量光束的准直状态。非常适合调整和组装准直器模块。 |
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 | NFP/FFP 同时测量光学系统 M-Scope D 型 | NFP/FFP同时观察和测量光学系统，无需切换光学系统即可在同一外壳光学系统中实现NFP测量和FFP测量。 |
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 | 用于高功率激光 M-Scope HL 型的 NFP 测量光学系统 | ~10W级高功率激光测量光束轮廓/NFP测量光学系统。物镜前面的衰减类型。使用的物镜仅兼容10x。用于输出 ~10W 级激光光束分析仪的单功能光学系统。 |
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 | 用于高功率激光器的高性能 NFP 测量光学系统 M-Scope HS 型 | 高性能光束轮廓/NFP 测量光学系统与 ~10W 级高功率激光测量兼容。物镜后两级调光型。可以选择所使用的物镜放大倍率。用于输出 ~10W 级激光光束分析仪的高性能光学系统。 |
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 | 用于高功率激光 M-Scope HF 型的 FFP 测量光学系统 | FFP（远场方向图，辐射角分布）测量光学系统兼容~10W级高功率激光测量。使用光学系统+图像处理方法可以进行实时测量。可应用于高功率激光器的辐射角分布和发射NA的测量。 |
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 | 用于蓝色高功率激光的NFP/FFP 同时测量光学系统 M-Scope type HD | NFP/FFP同时测量光学系统兼容~10W级蓝色高功率激光测量。使用光学系统+图像处理方法可以进行实时测量。 |
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 | 简易光学测量光学系统 M-Scope J 型 | 单目规格，用于光照射和光接收测量的小型通用型光学系统。小外壳使其非常适合与各种阶段组合以及在设备中使用。 |
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 | 用于偏振依赖性 的简单光学测量光学系统 M-Scope J/PF 型 | 一种单目规格、紧凑、通用型光学系统，用于光照射和光接收测量，配备有偏振相关对策端口。小外壳使其非常适合与各种阶段组合以及在设备中使用。 |
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 | 超小型光学测量光学系统 M-Scope 类型 M6/M20 | 用于光照射和光接收测量的超紧凑、低成本固定镜头光学系统。偏振依赖性对策类型。易于安装在舞台上并融入各种设备。 |
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 | 有限空间激发光学系统 M-Scope G 型 | 特殊的激发光学系统，可以改变测量入射光的光斑尺寸和入射光NA。非常适合分析多模光纤、光布线波导和塑料光纤在特殊激励条件下的光学传播特性。 |
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 | 模式选择激发光学系统 M-Scope ML 型 | 一种特殊的激发光学系统，只能提取和激发特定的入射光模式（入射光角度分量）。非常适合分析特殊激励条件下多模光纤、多模光波导和塑料光纤的光学传播特性。 |
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 | 用于 YAG 激光微点焊的激光照射光学系统 M-Scope Y 型 | 用于YAG激光微点焊的激光照射光学系统，用于光学部件和精密部件的高精度YAG焊接和固定。配备同轴观察相机，可以检查焊接位置和焊接条件。通过同时照射和焊接两束光束，可以实现高精度微焊接。 |
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