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错动折弯测试设备的应变测量功能是如何实现的?

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2024/11/28 11:25:11
  一、引言
 
  在材料测试与工程应用领域,错动折弯测试设备发挥着至关重要的作用,而其中的应变测量功能更是为深入了解材料在折弯过程中的力学行为提供了关键数据支持。准确掌握应变测量功能的实现方式,对于科研人员、工程师以及相关从业者精准评估材料性能、优化产品设计等都有着不可忽视的意义。本文将详细探讨错动折弯测试设备应变测量功能是如何实现的,剖析其背后涉及的关键技术与原理。
 
  二、应变测量的重要性
 
  在错动折弯测试中,材料会经历复杂的受力变形过程。应变作为描述材料受力时形状改变程度的物理量,能够直观反映材料的弹性、塑性等力学特性。通过对应变的精确测量,可以帮助我们判断材料在折弯过程中的屈服极限、强度极限,了解其是否会出现裂纹、断裂等情况,进而为材料的选型、工艺优化以及质量控制等环节提供量化依据。例如,在航空航天领域的金属结构件生产中,精确的应变测量能确保构件在复杂的飞行工况下具备可靠的力学性能,保障飞行安全。
 
  三、应变测量功能实现的基本原理
 
  (一)应变片原理
 
  错动折弯测试设备常用应变片来实现应变测量。应变片基于金属丝或半导体材料的电阻应变效应,即当材料受到外力作用发生应变时,其电阻值会相应地发生改变。通常将应变片牢固粘贴在测试材料的表面,在材料折弯过程中,应变片随材料一同变形,导致自身电阻变化,再通过惠斯通电桥电路将电阻变化转化为可测量的电压信号,以此来间接获取材料的应变情况。例如,在金属薄板的错动折弯测试中,应变片紧密贴合薄板表面,精确捕捉折弯时薄板的拉伸或压缩应变引起的电阻变化,进而推算出应变数值。
 
  (二)光学测量原理
 
  除了应变片,光学测量方法也被广泛应用于应变测量中。其中,数字图像相关(DIC)技术较为常见。其原理是在测试材料表面制作随机散斑图案,然后利用高速摄像机在材料折弯过程中连续拍摄图像,通过对比不同时刻图像中散斑图案的位移变化,利用相关算法计算出材料表面各点的位移场,再进一步通过位移与应变的关系推导出应变数据。这种方法的优势在于非接触式测量,不会对待测材料产生附加影响,且能够获取大面积的应变分布情况,适合对复杂形状或易损材料的应变测量,如在复合材料的折弯测试中可清晰呈现其内部不同纤维层的应变差异。
 
  四、关键技术与实现细节
 
  (一)应变片的选型与粘贴技术
 
  选型:根据测试材料的类型(如金属、塑料、复合材料等)、预计应变范围以及测试环境(温度、湿度等)来选择合适的应变片。例如,对于高温环境下的金属材料折弯测试,需选用耐高温的金属箔式应变片;对于微小应变测量场景,则可选用灵敏度更高的半导体应变片。
 
  粘贴:应变片的粘贴质量直接影响测量精度。要确保粘贴表面清洁、平整,采用专用的胶水按照规范的工艺进行粘贴,同时要注意避免粘贴过程中产生气泡、褶皱等情况,粘贴后还需进行固化处理,并进行必要的防护,防止在测试过程中应变片脱落或受到外界干扰。
 
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(二)惠斯通电桥电路的搭建与校准
 
  搭建:惠斯通电桥由四个电阻臂组成,其中一个或多个电阻臂采用应变片。合理搭建电桥电路,根据不同的测量需求选择合适的电桥连接方式(如半桥、全桥等),可以提高测量的灵敏度和准确性。例如,全桥连接方式相比半桥在相同应变情况下能输出更大的电压信号,更有利于小应变的精确测量。
 
  校准:为了确保测量结果的准确性,需要对电桥电路进行校准。通过已知标准应变的校准试件,对电桥输出的电压信号与实际应变的对应关系进行标定,消除电路本身的误差以及应变片初始阻值差异等因素带来的影响,使得测量得到的应变数据真实可靠。
 
  (三)光学测量系统的配置与数据处理
 
  配置:光学测量系统中的高速摄像机要具备足够高的分辨率、帧率以及良好的光学性能,以清晰捕捉材料表面散斑图案的细微变化。同时,照明系统要保证光照均匀且稳定,避免光照不均造成图像质量下降影响测量结果。
 
  数据处理:获取到的图像数据需要经过专业的图像处理软件进行处理。软件中内置的数字图像相关算法要能够准确识别散斑图案的位移,并且通过合理的数学模型将位移转化为应变。此外,还需要对数据进行滤波、去噪等预处理操作,提高应变数据的质量,并且可以通过可视化界面将应变分布以直观的云图等形式展示出来,方便分析解读。
 
  五、误差来源及补偿措施
 
  (一)温度影响
 
  温度变化会导致应变片自身电阻改变以及材料热膨胀等问题,从而对应变测量产生误差。为了补偿温度影响,可以采用温度自补偿应变片,或者在测量电路中设置温度补偿电路,通过测量温度变化并利用相应的补偿算法对应变数据进行修正,确保测量结果不受温度波动的干扰。
 
  (二)非线性误差
 
  应变片的电阻应变关系在较大应变范围或复杂受力情况下可能呈现非线性,惠斯通电桥输出电压与应变也并非线性关系,这会带来测量误差。对此,可以通过采用高精度的线性化电路、优化电桥配置以及在数据处理阶段进行非线性拟合修正等方法来降低非线性误差,提高应变测量的线性度和精度。
 
  (三)测量噪声
 
  无论是应变片测量中的电信号噪声还是光学测量中的图像噪声,都会影响应变测量的准确性。可以通过采用屏蔽电缆、良好的接地措施以及在信号调理电路中设置滤波环节来减少电信号噪声;对于光学测量中的图像噪声,则可以利用图像增强、降噪算法等进行处理,提高应变测量的可靠性。
 
  六、结论
 
  错动折弯测试设备的应变测量功能是通过多种原理和关键技术协同实现的。应变片与光学测量方法各有优劣,在实际应用中需根据具体的测试需求合理选择并优化相关技术细节。同时,充分认识并有效补偿各种误差来源,才能确保应变测量功能输出准确、可靠的应变数据,为错动折弯测试以及材料性能研究、产品质量把控等工作提供有力的技术支撑,推动相关领域不断向前发展。
 

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