SRM 2000 高分辨率X射线衍射用校准标准品（美国NIST）

SRM 2000 高分辨率X射线衍射用校准标准品（美国NIST）

产品货号：SRM 2000

英文名称：Calibration Standard for High-Resolution X-Ray Diffraction

中文名称：高分辨率X射线衍射用校准标准品

规格：1 block

危险等级：非危险品

产品用途：

该标准参考材料 （SRM） 为高分辨率 X 射线衍射 （HRXRD） 社区提供了国际单位制 （SI） [1] 可追溯的 Si （220） 透射 d 间距、表面到晶体平面晶圆误切和表面到硅 （004） 布拉格角反射对于我们的参考波长。 SRM 2000 的一个单元由 25 mm × 25 mm × 0.725 mm 双抛光 （100） 导向的单晶硅样品组成，标称值为 50 nm Si0.85Ge0.15 外延层和 25 nm Si 帽。 这些认证值可用于校准 HRXRD 仪器。

储存及操作说明：

外延层可能受损或晶片机械应变;因此，应避免接触 SRM 的前表面。 要去除表面污染，请使用过滤后的氮气。

峰分布：测得的衍射峰明显不对称。 支持性测量表明，这种不对称可能不完quan是由于仪器效应，而部分是由于 SRM 2000 原料的特性。 因此，使用分离 Pearson VII 曲线来拟合和估计峰位置，并推荐用于确定校准峰位置。 由于不对称性对轮廓位置确定的影响不同，使用另一个轮廓函数可能会导致系统偏差。

有效期：SRM 2000 的认证在指ding的不确定性范围内无限期有效，前提是 SRM 按照本证书中给出的说明进行处理和储存（参见“处理、储存和使用说明”）。 因此，不需要定期重新校准或重新认证此 SRM。 如果 SRM 损坏、污染或以其他方式修改，则认证将失效。

本公司保证全程采用美国NIST要求的运输条件进行产品运输。

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