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2024/12/10 11:48:55在微电子封装领域,微组装技术因其微型化、高集成度和高可靠性的特点而备受关注。特别是在微波组件的制造过程中,金丝键合作为连接微电子器件的关键技术,其质量直接决定了产品的可靠性和微波特性,对整个微波组件的性能起着至关重要的作用。因此,深入分析金丝键合工艺的影响因素,并优化键合参数,对于提升微波组件的整体性能和可靠性具有重大意义。
本文科准测控小编旨在探讨金丝键合工艺中的关键影响因素,并通过实验研究来确定最佳的键合参数。通过对25μm金丝进行的键合实验和拉力测试,我们收集了大量实验数据,并确保所有测量结果均符合军标GJB548B-2005的要求。这些数据不仅验证了金丝键合工艺的可靠性,而且为实际生产提供了宝贵的参考和指导。
一、金丝键合简介
键合是一种在接头处施加压力、机械振动、电能或热能等不同形式能量,以实现连接的方法,它属于压力焊接的范畴。在这一过程中,金属本身不会熔化,但在连接界面之间会发生原子扩散现象,表明连接面已经达到了足以产生原子间结合力的接近程度。直接将未封装的半导体裸芯片安装到微波多芯片组件(MCM)的基板上,标志着微组装技术迈出了重要的一步。在裸芯片的互连过程中,键合技术是组装MCM的核心环节。通过热压、超声或热超声等技术,将铝丝或金丝键合或点焊到裸芯片和基板的对应焊盘上。
随着技术要求的不断提升,铝丝键合的使用逐渐减少,金丝键合已经成为微组装技术中的一项关键工艺。热超声键合作为超声波键合的一种衍生技术,通过增加热能输入,融合了热压和超声的优点,特别适合于18至100微米范围的金丝。在本文的研究中,我们特别选择了25微米的金丝,并采用热超声键合技术进行实验和分析。
二、金丝键合的分类
从键合工具及对引线端部的工艺处理不同可将金丝键 合 分 为 球 形 键 合 (BallBond)和 楔 形 键 合(WedgeBond),如下图所示。
球形键合过程中,劈刀产生电火花使金丝端部熔化形成球状,球径约为金丝直径的2至3倍。随后,劈刀下降将金球压在焊盘上完成第一个焊点。劈刀移动至第二点,以楔形方式完成第二个焊点,并通过扯线使金丝断裂。接着,劈刀调整至适当高度,准备下一次键合循环。球形键合适用于360°任意角度焊接,通常使用直径75μm以下的金丝,适用于焊盘间距大于100μm的情况。
楔形键合时,金丝通过劈刀背面的通孔,在热、压力或超声波的作用下与焊盘金属接触形成连接。这是一种单向焊接工艺,第二焊点需与第一焊点同方向。
三、金丝键合质量分析
1、金丝质量要求
金丝纯度需达到99.99%以上。
金丝尺寸需精确,表面需均匀且无污染。
金丝应满足标准的拉断力和延展率要求。
2、金丝直径的影响
不同集成电路对金丝直径有不同要求。
本文实验以常用的25μm金丝为例进行键合质量分析。
3、工艺参数优化
基于经验确定工艺参数的范围边界,确保键合点完整且不压断金丝。
在参数边界范围内均匀设计实验参数组合,形成实验方案。
4、实验材料与方案
选取陶瓷和罗杰斯5880两种基板板材。
芯片选用GaAs芯片。
使用进口25μm金丝。
根据常用键合类型制定实验方案。
5、实验过程
每组工艺参数使用全新劈刀进行键合。
键合后进行拉力测试,以拉力值作为参考标准。
6、参数组合与测试
对每个方案设计12组参数组合。
每种组合键合10根金丝。
剔除因人为因素造成的不合格焊点,如尾丝过长、焊点不完整、金丝拱弧过低等。
7、拉力测试与数据分析
1)检测设备
Alpha-W260键合推拉力测试机
键合推拉力测试机是一种专用于微电子引线键合后焊接强度测试、焊点与基板粘接力测试及其失效分析的动态测试仪器,具备高速力值采集系统,能够根据测试需求更换相应的测试模组,系统会自动识别模组量程,实现不同产品的灵活测试。该设备每个工位都设有独立安全高度位和安全限速,以防止误操作损坏测试针头,具有动作迅速、准确、适用面广的优势。它广泛应用于半导体IC封装、LED封装、光电子器件封装、PCBA电子组装、汽车电子、航空航天及军工等领域,同时也适用于电子分析研究单位的失效分析以及院校的教学和研究。
2)检测标准
按照GJB548B-2005中方法2011.1进行破坏性键合拉力实验。
3)检测流程
a、实验准备
校准推拉力测试机,确保测试数据准确可靠。
准备测试记录表,用于记录测试数据和结果。
b、设备配置
根据国际标准或工艺要求,设定测试机参数,如测试速度和最大拉力。
调整夹具,保证金丝正确稳固夹持,测试方向与金丝键合方向一致。
c、样品安装
将待测软基板样品固定在测试机工作台上,确保样品平整稳定。
调整夹具使金丝居中,保证测试精确性。
d、实验操作
启动测试机,逐渐施加拉力,模拟金丝在实际使用中的受力情况。
观察金丝在拉力作用下的形变和断裂现象。
记录金丝在不同拉力下的形变情况,直至断裂或脱落。
e、数据记录与分析
记录金丝断裂时的最大拉力值,评估金丝键合强度。
记录金丝断裂位置,识别金丝键合的弱点。
分析数据,确定金丝键合的可靠性,并提出改进措施。
以上就是小编介绍的有关于微组装技术中的金丝键合工艺可靠性分析相关内容了,希望可以给大家带来帮助!如果您还想了解更多关于推拉力测试机怎么使用和校准,推拉力测试仪操作规范,焊接强度测试仪使用方法和键合拉力测试仪等问题,欢迎您关注我们,也可以给我们私信和留言,【科准测控】小编将持续为大家分享推拉力测试机在锂电池电阻、晶圆、硅晶片、IC半导体、BGA元件焊点、ALMP封装、微电子封装、LED封装、TO封装等领域应用中可能遇到的问题及解决方案。