偏光显微镜是一种用于研究透明与不透明各向异性材料的光学显微镜，它利用光的偏振特性对具有双折射性的物质进行研究鉴定。
偏光显微镜的基本原理是将自然光改变为偏振光进行镜检，以鉴别某一物质是单折射(各向同性)还是双折射性(各向异性)。当光线通过双折射体时，会形成两种偏振光，其振动方向依物体的种类而有所不同。偏光显微镜利用这一特性，通过加上两块起偏作用的偏光镜(即下偏光镜和上偏光镜)，将自然光转化为偏振光，并观察样品在偏振光下的表现，从而判断其是否具有双折射性。
偏光显微镜具有多种功能，包括但不限于：
单偏光观察：仅使用起偏器或检偏器中的一个，观察样品在偏振光下的基本形态和颜色。
正交偏光观察：将起偏器和检偏器的透光轴置于正交位置，观察样品在正交偏光下的表现，如消光现象、干涉色等。
锥光观察：使用特殊的光学元件(如锥光镜)将光线聚焦成锥形光束，观察样品在锥光下的干涉图样，用于判断样品的晶体类型和取向。
