MPR200-PAB-ZP40 αβ表面污染测量仪应用

MPR200-PAB-ZP40 αβ表面污染测量仪应用

MPR200-PAB-ZP40a8表面污染测量仪

MPR200-PAB-ZP40 表面污染测量仪由MPR200主机+PAB-ZP40a、β表面污染探头组成，可对分别对a、B射线进行测量，报警阀值和测量时间连续可调。

MPR200主机

功能特点

自动识别各种外接探头

OLED显示，无需背光

电容式触摸按键

USB数据通讯

数抵管理软件

可存储12000条数据

PAB-ZP40 闪烁探头+ 探 测 器:ZnS(Ag)+ 塑料闪烁体

*测量范围:0.01 cps-9999 cps

0.001 Bgkm:-. 999.99 kBg/em?

*有效面积:40 cm2

*数斯重复性:<20%

*相对固有误差:St25

+本底计数:a.≤0.03 cps:

p. ≤3 cps

*探测下限:a.≤0.04 Bgkm*pPu，10s，置信度95%，环境本底02uGyh)

p，≤0.4Bqkm(srmY，10s，置信度95%，环境本底02mGyh)+探测效率:a,≥30%(2Pu，2元，距探测器5 mm，保护网格挡率<30%)

B，230%(20Sr-0Y，2元，距探测器10mm，保护网格挡率<30%)

。申道比:a进入p道<3%，p进入a道<1%

*尺寸:90mmx90mmx230mm

+重 量:900g