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高分子材料测试用氧化劣化评估设备介绍

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2024/12/17 10:12:54

高分子材料测试用氧化劣化评估设备介绍

高分子材料在环境中逐渐氧化并开始劣化。
该装置采用未有的方法对材料的氧化进行定量,
从而可以定量评估氧化劣化。

如今,使用比原生料氧化程度更高的回收料,即使原材料相同,也会因工艺不同而导致成品性能差异,甚至因批次不同而导致成品性能差异。即使材料相同,这也是分析除耐候性以外涉及氧化的因素(例如性能差异)的非常有效的方法。

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测量原理

◆传统的化学发光法通过捕获人类不可见的光来检测氧化变质
 ,主要在约数千小时后进行评估,直到达到设备可以检测到的水平。
 该设备最早可以在几个小时后检测到变化,具体取决于材料和恶化速度。

 

 

通过捕获上面显示的光发射,您可以获得以下结果。

 

 

・通过在空气中加热样品,过氧化物分解并检测到“第一个峰”。
 该第一个峰对应于测量时的过氧化物的量。
- 最终,它将达到平衡状态。此时的强度称为平衡发射强度(IS)。
- 如果样品添加了稳定剂,稳定剂会阻挡它,但一旦消耗,样品本身就会发生氧化,发光强度会增加。
・第2个峰值的起点被称为氧化诱导时间(OIT),可以根据该OIT评价样品的氧化稳定性。
 还可以通过 IS(平衡发射强度)评估样品的氧化稳定性。


阵容

◆高灵敏度型

产品名称/型号名称

超弱发光检测光谱仪

CLA-FS5

超弱发光检测光谱仪

CLA-ID5

外部的
检测方法

单光子计数法

使用光电倍增管(Photomultiplier)

检测波长300nm至650nm(中心波长420nm)
冷却方式

一次冷却:帕尔贴元件二次冷却:水冷

测量项目

①发光亮度(次/秒)

② 发射光谱
(380nm至660nm/20nm分辨率)

发射亮度(计数/秒)

最短测量时间

(闸门时间)

0.1秒、1秒、10秒
光谱滤光片

内置15张

(380nm至660nm:每20nm)

没有任何

触摸屏

显示项目

① 发光量 ② 样品室温度 ③ 样品室设定温度 ④ 状态 ⑤ GateTime ⑥ 报警

⑦详情 ⑧样品室开/关状态 ⑨快门开/关状态

通讯功能USB 端口 (1) 使用专用程序
尺寸/重量

523.5(宽)×411.5(深)×547(高)毫米

约60公斤

310(宽)×420(深)×524(高)毫米

约35公斤

 

◆成像功能型

产品名称/型号名称

弱发光图像测量装置

CLA-IMG5

瞬时光谱测量装置

共轭亚油酸SP3

外部的
检测方法背照式帧传输CCD相机
检测波长400-800nm(中心波长600nm)
冷却方式风冷
有效像素数1024 x 1024 像素1600 x 200 像素
解决

空间分辨率:约150μm×150μm

(选项:约10μm)

波长分辨率:约1nm
测量项目

发光图像

发射亮度(图像选择范围内)

发射光谱测量
接触时间30毫秒~120分钟0.01 至 10,000 秒
镜片25mm F0.95(C接口)入口狭缝宽度:0.1/0.5/1.0mm
内置快门内置机械快门没有任何
通讯功能IEEE1394bUSB
尺寸/重量

310(宽)×446(深)×775(高)毫米

约30公斤

310(宽)×420(深)×524(高)毫米

约35公斤

应用

◆耐候性评价
  PDF下载:
三种不同类型PP材料的耐候性评价用CLA-FS5型测定
  PDF下载:再生材料原料的评价及共混比的确定

  ◆下载PFD 以确定添加剂的有效性:在短时间内预测抗氧化剂等处方药的有效性

  ◆下载PFD ,对储存物料进行合格/不合格判断:量化自然氧化,有效利用物料,减少浪费




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