我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪（含能量色散和波长色散型）（XRF）、电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP）、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 、原子荧光光谱仪（AFS）、原子吸收分光光度计（AAS）、光电直读光谱仪（OES）、气相色谱仪（GC）、气相质谱仪（GC-MS）、液相色谱仪（LC）、液相质谱仪（LC-MS）、能谱仪（EDS）、高频红外碳硫分析仪（CS）、矿浆载流在线采样仪（OSA）等。产品主要应用领域有电子电器、五金塑胶、珠宝首饰（贵金属及镀层检测等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中规定的有害物质：铅Pb、砷Ａs、锑Sb、钡Ｂa、镉Cd、铬Cr、Ｈg、硒Se以及氯等卤族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（铜合金、铝合金、镁合金等）、冶金（钢铁、稀土、钼精矿、其它黑色及有色金属等）、地质采矿（各种矿石品位检测设备）、塑料（无卤测试等）、石油化工、高岭土、煤炭、食品、空气、水质、土壤、环境保护、香精香料、纺织品、医药、商品检验、质量检验、人体微量元素和化合物检验等等。销售的仪器设备应用于元素分析，化合物测试，电镀镀层厚度检测等。
对于地质、采矿、金属、土壤、环境、考古、木材、电子、医药、环保、啤酒、电力、石油化工、玩具、大型工程、有害元素、锅炉制造、电镀镀层、再生资源金属、玻璃等各种元素分析.进行这种元素检测有两种分析方法，物理分析和湿化学分析.物理分析一般是用X荧光光谱仪（手持式或台式）测试，无损测试，使用简单方便。湿化学分析一般是指实验室使用的高精度分析设备，测试精度高，稳定，结果可信度高。下面介绍使用广泛的ICP仪器：
实验室使用的仪器（ICP)简介：
仪器性能特点：
1、仪器自动化程度高
仪器的自动化程度高，除了电源开关外，所有操作均由软件完成。智能化的软件，可实时可对各项操作进行实时反馈及信息提示。
2、安全可靠的固态射频电源
仪器采用的射频电源，具有体积小、输出效率高、输出功率稳定，带有水路、气路及过载等各类安全保护功能，大大提升仪器的安全性，减小了仪器的故障率。
3、全自动点火及匹配技术
软件可全自动一键点火，所有的参数设置变化，均自动完成。配合先进的自动匹配技术，点火成功率高，操作简便。
4、智能化的火焰监视功能
仪器配置了灵敏度光纤传感器，可在仪器工作状态下，实时监测火焰的工作情况，如遇异常熄火情况，可自动关闭仪器。
5、超高分辨率的光路系统
仪器配置了超高分辨率的4320刻线的进口光栅，配合光路调节技术，把普通仪器的分辨率约0、008nm降低至0、005nm以内，超高的分辨率保证了测试元素之间没有相互干扰。
6、精度高的恒温系统
仪器整体光路采用精密恒温系统保护，温度的控制可根据客户实验室实际环境温度实时设定，无需长时间不间断的开可调，控温精度≤±0、1℃，精密的恒温系统保证了光路的稳定性，测试数据更稳定。
7、高精度的气流控制系统
仪器工作中的等离子气、辅助气、载气全部采用高精度的质量流量控制器（MFC）来控制，具有流量连续可调、输出气流的精度高，保证了测试数据的准确性。
8、蠕动泵进样装置
仪器配置了通道十二滚轴的高精度蠕动泵，可同时保证进样的精度和防止积液，蠕动泵的转速连续可调，满足客户的多种测试要求。
9、观测位置自动调节
仪器采用二维的移动平台设计，可通过软件实时调节炬管的位置，通过反馈的信号值找到优化的观测位置，以获取较强的灵敏度，得出准确的测试效果。
10、超低的使用成本
仪器非工作状态下仪器电源、冷却水箱、气体全部关闭，不产生任何费用，仪器工作即开即用，无需长时间的光路预热。使用氩气纯度为99、99*%即可，无需99、999%的高纯氩，成本节约至少三分之一。
11、灵敏度高的检测器
仪器配置了高灵敏度进口光电倍增管（PMT）作为检测器，可针对不同的待测元素自动设置测试参数，以达到理想的检测状态，给出准确的测试结果。无需制冷，无需吹扫，使用寿命长。
仪器技术参数：
1、输入电源：电压交流220V，电流20A。
2、采用CzernyTurner型光路，焦距为1000mm。
3、离子刻蚀全息光栅，刻划面积（80×110）mm。
4、全自动一键点火，自动匹配，点火稳定、便捷。
5、采用同心圆雾化器搭配旋流雾室，1ppmMn强度＞1000000cps。
6、分辨率（Mn257、610nm）：≤0、005nm（4320刻线光栅）；≤0、008nm（3600刻线光栅）；≤0、015nm（2400刻线光栅）。
7、波长范围：190-460nm（4320刻线光栅）；190-500nm（3600刻线光栅）；190-800nm（2400刻线光栅）
8、自主研发全固态射频电源，输出功率800-1600W,连续可调，电源效率大于65%，工作频率27、12MHz，频率稳定性＜0、05%，功率输出稳定性＜0、05%。
详细指标参数如下：
光栅刻线 | 光栅：2400刻线 | 光栅：3600刻线 | 光栅：4320刻线 | |
波长 | 范围 | 190nm-800nm | 190nm-500nm | 190nm-420nm |
示值误差 | ±0.03nm | ±0.03nm | ±0.03nm | |
重复性 | ≦0.005nm | ≦0.005nm | ≦0.005nm | |
最小光谱带宽 | Mn 257.610nm 半高宽≦0.030nm | Mn 257.610nm 半高宽≦0.015nm | Mn 257.610nm 半高宽≦0.007nm | |
检出限/(ug/L) | Zn(213.856nm)≦ 3.0 Ni(231.604nm)≦ 10.0 Mn(257.610nm）≦ 2.0 Cr(267.716nm)≦ 7.0 Cu(324.754nm)≦ 7.0 Ba(455.403nm）≦ 1.0 | Zn(213.856nm)≦ 3.0 Ni(231.604nm)≦ 10.0 Mn(257.610nm）≦ 2.0 Cr(267.716nm)≦ 7.0 Cu(324.754nm)≦ 7.0 Ba(455.403nm）≦ 1.0 | Zn(213.856nm)≦ 3.0 Ni(231.604nm)≦ 10.0 Mn(257.610nm）≦ 2.0 Cr(267.716nm)≦ 7.0 Cu(324.754nm)≦ 7.0 Ba(455.403nm）≦ 1.0 | |
重复性 | 3号溶液 RSD≤1.5% | 3号溶液 RSD≤1.5（%） | 3号溶液 RSD≤1.5（%）） | |
稳定性 | 3号溶液 RSD≤2% | 3号溶液 RSD≤2% | 3号溶液 RSD≤2% | |
说明：下表为检定用溶液标准
表A.1 检定波长用标准溶液
元素 | Se | Zn | Mn | Cu | Ba | Na | Li | K |
波长/nm | 196.026 | 213.856 | 257.610 | 324.754 | 455.403 | 588.995 | 670.784 | 766.491 |
浓度/（mg/L） | 10.0 | 10.0 | 5.00 | 5.00 | 5.00 | 20.0 | 10.0 | 20.0 |
注：基体为0.5mol/L硝酸 1.光栅刻线为2400L/mm时波长检定以上元素 2.光栅刻线为3600L/mm时波长检定元素不含Li、Na、K。 | ||||||||
表A.2 工作曲线系列标准溶液 单位：mg/L
元素 | Zn | Ni | Mn | Cr | Cu | Ba |
1号 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
2号 | 1.00 | 1.00 | 0.50 | 1.00 | 0.50 | 0.50 |
3号 | 2.00 | 2.00 | 1.00 | 2.00 | 1.00 | 1.00 |
4号 | 5.00 | 5.00 | 2.50 | 5.00 | 2.50 | 2.50 |
注：基体为0.5mol/L硝酸 | ||||||
典型元素检出限（μg/L）：
元素 | La | Ce | Pr | Nd | Sm | Eu | Gd | Tb |
波长(nm) | 408.672 | 413.765 | 414.311 | 401.225 | 360.946 | 381.967 | 342.247 | 350.917 |
检出限 | <3.0 | <5.0 | <5.0 | <5.0 | < 10.0 | < 1.0 | <10.0 | < 3.0 |
元素 | Dy | Ho | Er | Tm | Yb | Lu | Y | Sc |
波长(nm) | 353.170 | 345.600 | 337.271 | 313.126 | 369.419 | 261.541 | 371.030 | 335.373 |
检出限 | <3.0 | <3.0 | <3.0 | <3.0 | <1.0 | <3.0 | <1.0 | <1.0 |
元素 | Ta | Nb | Mn | Mg | B | Zn | Co | Si |
波长（nm） | 226.230 | 313.340 | 257.610 | 279.553 | 249.773 | 13.856 | 228.616 | 251.611 |
检出限 | <5.0 | <5.0 | <3.0 | <1.0 | <10.0 | <3.0 | <3.0 | <10.0 |
元素 | Ni | Cd | Fe | Ca | Mo | V | Be | Ti |
波长(nm) | 232.003 | 226.502 | 239.562 | 393.366 | 281.615 | 310.230 | 313.041 | 334.941 |
检出限 | <5.0 | <3.0 | <3.0 | <1.0 | <5.0 | <5.0 | <1.0 | <3.0 |
元素 | Cu | Cr | Al | Zr | Ag | Sr | Au | Pt |
波长(nm) | 324.754 | 267.716 | 396.152 | 343.823 | 328.068 | 407.771 | 242.795 | 265.945 |
检出限 | <3.0 | <5.0 | <5.0 | <5.0 | <3.0 | <1.0 | <5.0 | <5.0 |
元素 | Pd | Ir | Rh | Ru | Ba |
波长(nm) | 340.458 | 224.268 | 343.489 | 240.272 | 455.403 |
检出限 | <5.0 | <10.0 | <10.0 | <5.0 | <1.0 |
元素 | As | Sb | Bi | Hg | Pb | Ga | Se |
波长(nm | 228.812 | 206.833 | 223.061 | 253.652 | 220.353 | 294.364 | 203.985 |
检出限 | ≤15 | ≤15 | ≤10 | ≤15 | ≤15 | ≤10 | ≤10 |
元素 | Sn | Te | Ta | Th | Tl | Re | Ge |
波长(nm) | 242.949 | 214.281 | 226.230 | 283.730 | 276.787 | 227.525 | 209.426 |
检出限 | ≤20 | ≤10 | ≤5.0 | ≤10 | ≤30 | ≤5 | ≤15 |
元素 | Os | W | Se | Li | Na | K |
波长(nm) | 225.585 | 207.911 | 203.985 | 670.784 | 588.995 | 766.490 |
检出限 | ≤1 | ≤10 | ≤30 | ≤3 | ≤20 | ≤60 |
应用领域：
1、冶金行业
对产品成分的分析，可实时管控生产流程及工艺，确保最终产品的成分含量，以保证最终产品的质量要求。
2、贵金属行业
贵金属杂质元素含量直接影响到贵金属的纯度和性能，同时决定了贵金属本身的价值，准确测定低含量杂质元素的含量，对贵金属行业显得极其重要。
3、环保行业
准确快速分析环境样品（水质、土壤、大气）中的元素组成，为人类的日常生活保驾护航。
4、地矿行业
准确快速分析矿产是元素含量，对矿山的前期开采，中期管控，后期修复等等都有严格的指导意义。
5.其他行业
