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光伏组件PID/电势诱导衰减测试系统

常州宇清电气科技有限公司

2013/9/24 20:41:18

 

YQ-GF-PID光伏组件PID测试系统

 

一、概述:

 YQ-GF-PID型光伏组件PID测试系统/电势诱导衰减测试系统是常州宇清电气科技有限公司自主研发的,测试目的:1.评估光伏组件承受系统偏压的能力;2.测试光伏组件承受系统电压、温度、湿度等各种应力的能力;3.减少和预防PID现象。

执行标准:IEC 62804 (Draft)。

光伏应用越来越多,电站规模越来越大,组件串联的数目不断增大。这样,太阳能组件承受高对地势能的几率越来越大。当系统的一端接地时,距离接地端zui远的组件对地将产生较高的电势,美洲接近600V,欧洲接近1000V。一般来说,泄漏电流是经过封装材料、铝边框或安装支架流入大地的。泄漏电的大小与电池片材料及工艺、组件材料及工艺、系统安装方法、环境温度、环境湿度等因素有关。长期泄漏电将使电池片载流子及耗尽层状态发生变化、电路中的接触电阻受到腐蚀、封装材料受到电化学腐蚀,从而导致电池片功率衰减、串联电阻增大、透光率降低、脱层等影响组件长期发电量及寿命的现象。

对组件来说,泄漏电途径如下图所示。

泄漏电的途径主要经过玻璃I1EVA 与玻璃的界面I2EVAI3、背板材料I4和边框密封材料等到达边框。

二、测试标准:

1.PID 测试标准引自 IEC 62804 (Draft) “System voltage durability test for crystalline silicon modules – design qualification and type approval”,基本要求是准备 3 块组件。其中一块作为控制组件,组件置于一定温度和湿度的环境中,将组件的内部导电体与高压电源的一个极连在一起,组件外导电体与高压电源的另一极连在一起。 一块组件在正偏压下进行老化,一块组件在负偏压下老化。

2.测试条件如下:

环境温度:60℃±2℃;

环境湿度:85%±5% RH;

测试时间:96 小时;

测试电压:在组件需满足的正系统电压下或负系统电压下。

3.组件老化前需经过光老化、外观检测、zui大功率测试、绝缘测试、接地连续性测试(如果组件有外漏导电体),老化后需进行湿漏电测试、zui大功率点测试、外观检测、绝缘测试。

具体测试序列见下图所示:

三、功能特点:

1.组件边框端*接地,既模拟实际情况,又防止了测试过程中由于边框高压引起的潜在危险;

2.对于每块组件,采用4线制测试方法,2根高压线,2根接地线,高压线通过接线盒与组件内部连在一起,接地线与边框连在一起或连接在其他有效位置;

3.多路电流同时显示,报警参数单独设置,单路通断控制;

4.正电源和负电源的无弧化转换,模拟系统的正极接地或负极接地;

5.功能,可设置测试时间,自动停止;

6.上位机记录测试中数据;

四、参数配置:

Ø  设备型号:YQ-GF-PID

Ø  外观尺寸:640mm*640mm*1500mm

Ø  电源电压:-1500V~0V/ 0~+1500V

Ø  电源时漂:≤0.3%/h

Ø  电源温漂:≤0.5‰/℃

Ø  电源纹波:≤0.5%

Ø  电流范围:1~1000 uA /-1000 uA~-1

Ø  试验时间:0~168h

Ø  绝缘电阻:>1000MΩ

Ø  测试组件数:可定制

五、软件介绍:

1.实时显示泄漏电流(微安级)、泄漏电量、绝缘电阻、组件温度、湿度等参数;

2.显示当前测试和历史记录中的泄漏电流 (微安级)、泄漏电量、绝缘电阻、组件温度、湿度等曲线; 

3.多路测试条件单独设置,包括测试时间、系统报警参数等;

4.所有数据可以 Excel 或 Access 表格形式存储,方便数据处理。

六、设备配置:

机柜         1 

主机         1 

记录系统      1 

控制系统      1

电源         1 

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