深圳市金东霖科技有限公司
2013/11/14 16:31:111898年11月8日，伦琴发现了X射线，从此无损检测技术开始发生了质的变革。它使固体内部的缺陷得以直观地显现出来。X射线是一束光子流。在真空中，它以光速直线传播，本身不带电，故不受电磁场的影响。具有波粒二象性。从物理学中，我们知道，凡具有加速度的带电粒子都会产生电磁辐射。因此当电子在高压电场的作用下，高速运动时，突然撞击到靶面，（会产生很大的负加速度）从而形成了所谓的韧致辐射。简单地说，它是由高速运动的电子撞击靶面而产生的。另一方面，当电子的动能足够大时，将会把靶面原子的内层电子轰击出来，在原位置形成孔穴，而此刻，外层的电子（位于高能级）产生跃迁以*该孔穴。同时，它将多余的能量以X射线的形式放出，形成所谓的标识X射线。标识射线的波长是不连续的。它取决于靶面的材料。它通常用于对材料的化学成分进行定性分析。在无损检测探伤中，一般用前者。
X射线具有很强的穿透能力。在媒体的界面，它的折射率很小，几乎为1。从而使我们可以按几何方式来计算成像的比例。
由韧致辐射产生的X射线，具有连续谱线。它的波长取决于电场的电压和场内的电子流。其强度表示为：
I=
其中，K----系数；i------管电流； U-----管电压；Z-----靶的原子序数。
穿透物体后，射线的强度为：I1=Io X exp（-ud），射线入射强度减弱一半的吸收物质厚度称为半价层。
宽容度（L）指胶片有效密度范围对应的曝光范围。在胶片特性曲线上，就用接近
在线部分的起点和终点在横坐标上相对应的曝光量对数表示，显然梯度大的胶片其宽容度必然小。
线型象质计应放在射线源一侧的工件表面上被检焊缝区一端（被检区长度的l／4部位）。金属丝应横跨焊缝并与焊缝方向垂直，钢丝置于外侧。当射线源一侧无法放置象质计时，也可放在胶片一侧的工件表面上，但象质指数应提高一级，或通过对比试验，使实际象质指数达到规定的要求。象质计放在胶片一侧工件表面上时，应附加“F”标记以示区别。中心透照环焊缝时，每隔如”放置一个象质计。多个管子接头在一张底片上同时显示时，至少应放一个象质计，且置于zui边缘的那根管子上。
象质计的线径d与线号《象质指数》之间的关系：
d＝ de，z＝ 6－10lgd
金属丝象质计的相对灵敏度： S = A X 10O％，如一底片上可识别的zui小线径，照厚度。
射线照相对比度公式：
射线照相对比度（底片对比度）D是主因对比度tri和胶片对比度r共同作用
工件表面距离，Q－I件表面至胶片距离。
为保证射线照相的清晰度，标准对透照距离的zuiJ前防限制：
象质等级透照距离（焦点至工件表面距离）入K值
为了评价X射线在胶片上的成像质量，人们通常用像质计作为检测标准。线型像质计的摆放，应在射线源一边。灵敏度的计算为：m=di/DpX100%
技术参数：
x射线激发能量：50 W（50 kv和1 ma）钨靶射线管
探测器：硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率
测量的分析层和元素：5层（4层镀层+基材）和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素
过滤器/准直器：4个初级滤波器,4个电动准直器（0.1 0.2 0.3 1.5mm）
聚焦:多固定聚焦与激光系统
数字脉冲处理:4096 多通道数字分析器与自动信号处理，包括X射线时间修正和防X射线积累
电脑:英特尔酷睿i5 3470处理器（3.2 ghz）,8 gb DDR3内存,微软Windows 7专业64位等效
镜头:1/4 " cmos - 1280 x720 VGA分辨率
电源:150 w、100 ~ 240伏,频率范围47赫兹到63赫兹
工作环境:50°F（10°C）到104°F（40°C）小于98% RH,无冷凝水
重量:32公斤
内部尺寸:高:140毫米（5.5“）,宽:310毫米（12）,深:210毫米（8.3”） 140*310mm
外形尺寸:高:450毫米（18英寸）,宽:450毫米（18）,深:600毫米（24） 450*450mm
特点：
（1）无损分析：无需样品制备
（2）经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益
（3）操作简单，只需要简单的培训
（4）分析只需三步骤
（5）杰出的分析准确性和性
（6）在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验
（7）使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，保证质量的同时降低成本。
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