介电常数测试仪 应用：高速数字/微波回路的各种材料；新材料；半导体材料；薄膜材料。
【正确把握材料的电学性能，在新材料，以及新产品的开发得到zui大限度的利用】
利用创新的开发理念，实现了低成本开发。
计量技术的重大突破
率的设备和系统应用在现代宽带通信技术中成功发展的关键是了解材料的电学性质。在过去，微波知识的掌握和昂贵设备的使用经验对传统介质的测量是必要的。而AET公司开发的微波介电常数测定仪不需要昂贵的设备，它能够快速无损的测量各种形状的材料，包括薄膜电介质材料，通过一个开放型同轴共振器的消逝模式进行测量。内置的反馈电路可以使得测量更准确，振荡器的操作更简单。精度是通过结合高Q腔，高度的测量算法和三维电磁仿真软件得到保证。
*MW STUDIO: 是CST GmbH提供的三维电磁场仿真软件。
不用必须使用微波发生器
AET的微波介电常数测试仪有两种型号的，分别是合成扫描振荡器型（可以代替微波发生器），和微波发生器型。合成扫描振荡器型包括一个振荡器（振荡器中有一个微波信号发生装置和一个检测器），一个测量探测器，一套定制的软件和一些附件。这款机器造价很低主要是由于他不用很昂贵的测量器件。另一种的微波发生型提供了微波发生装置可供使用。它也包括一个测量探测器，一套定制的软件和一些附件。
快捷简便的测量：
AET的微波介电常数测定仪zui大的优势是其使用简便，只需要简单的把样品放置在测量探测器上即可完成测试。*的探测器的倏逝场可以很快，并且对许多形状材料进行无损测量。ε的随机误差小于1%，tanδ的随机误差小于5%。精度通过两种不同参比材料的校准来确定。通过计算参比物质和样品材料的相对误差，消除外部误差源（如室温，湿度，震动等）
*&理想的测量探测器
AET的微波介电常数测定仪拥有一个*的测试探测器叫做“同轴共振器”。测量可以选择五点同时测量模式或者单个频率测量模式。一个样品材料放置在探测器上，一个倏逝电场从探测仪顶端渗入到样品材料中。这个电场随着材料的介电性质而改变，依次改变共振频率和整个腔体的Q值。而后介电性质可以通过共振的变化被计算出来。高精度的测量计算程序来计算复杂的介电常数，利用电磁场分布和倏逝模式共振的特性，通过“3D EM-field”模拟器“MW studio”来计算。
介电常数计量服务：
时至今日，介电特性的测量一直是基于微扰理论的近似计算。AET公司的介电常数计量服务是将一个高Q腔和3D电磁场模拟技术运用到测量介电特性的过程中。介电常数计量服务可以使我们地测量出样品的相关介电特性值。
我们根据样品材料的大小以及形状选择的测量方法，而后提供了几乎所有样品材料的测量方法，包括固体，片材，薄膜样品，多层电路板，颗粒以及液体。
应用：
基体材料的高速数字/微波电路；低损耗介质用于过滤和介质天线；薄膜材料和新材料；半导体材料；医疗电子；化学制品；食品（水分含量）；人体组织；气体；液体。
提供材料的信息，比如：质量，大小和形状，粗糙度
技术参数：
（一） 同轴共振器型介电常数测定仪：（可以对所有形状的样品进行测试）
1. 频率：0.8~18GHz
2. 频率点：可以选择五个离散的频率点或者一个点
3. 测量范围：ε：1-15 tanδ：0.001~0.1
4. 测量精度：ε：±1% tanδ：±5%
5. 样品形状：形状可以任意只要有平滑的表面即可（但是，平滑表面面积要在10mm×10mm以上，厚度在0.5mm以上）。
（二）共振腔型介电常数测定仪：（测定薄膜和多层印刷电路板）
1. 频率：1~18GHz
2. 频率点：每一次共振一个点
3. 测量范围：ε：1-30 tanδ：0.0001~0.1
4. 测量精度：ε：±1% tanδ：±5%
5. 样品形状：条状、圆棒状、方杆、薄膜
主要特点：
（一） 同轴共振器型介电常数测定仪：（可以对所有形状的样品进行测试）
特点：
1. 一个开放型同轴共振器用倏逝模式的波进行测定：倏逝波
一个样品材料放在探测仪上，一个倏逝电场从探测仪顶端渗入到样品材料中。这个电场随着材料的介电性质而改变，依次改变共振频率和整个腔体的Q值。而后介电性质可以通过共振的变化被计算出来。
2．简单、准确，无破坏性的测定：
一个开放型的共振器可以简单的进行样品放置，快捷准确的对其介电性质进行测量。
3．稳定的测定：
可以通过真空附件提供样品与探测器的紧密连接。
（二）共振腔型介电常数测定仪：（测定薄膜和多层印刷电路板）
特点：
1. 通过共振腔进行测量
把样品添加入共振腔中，电场随着样品材料的介电性质而改变，依次改变共振频率和整个腔体的Q值。而后介电性质可以通过改变的共振被计算出来。
2. 简单快捷的测量
在样品插入共振腔在很短的时间内，介电常数就可以测出来。
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