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什么是测量方法?测量方法有哪些?测量显微镜常识

上海光学仪器一厂

2015/4/16 17:19:07

金相显微镜


什么是测量方法?测量方法有哪些?测量显微镜常识


    所谓测量方法,是指测量过程中所用的量具或计量仪器和

测量条件的总和,包括比较的方式(测量原理)等。具休包括以下

几点:①具有一定精度指标的量具和计zui仪器;②被测零件的特

性及其参数特点;⑧标准件;④测员基面及其定位形式;⑤瞄准

形式;⑥测量力和接触形式;⑦测量的客观条件(温度、湿度等)


测量显微镜测量方法有以下几种:


    (1)直接测量和间接测量


    从获得测员结果的方式不同,测量可分为直接测zui和间接

测量两类。所谓直接测量就是测量结果可以直接地由量具或

址仪的读数装置上读得被测的量的大小,例如用千分尺测量一

个外圆柱直径、用游标卡尺测zui一段长度等,所谓间接测量,

就是测量的结果不是直接获得的,而是由测量与其有一定关系

的量,通过计算得到被测的量的大小。例如用正弦规测zui锥体

的锥角,用圆柱(圆球)法测景大圆弧半径,用弓高弦长法测

量一段非整圆的圆弧半径等,测量后,要经过计算才能得到被

测的量的大小。


    (2)测量和相对测量:


    从比较方式的不同,测量可分为测量和相对测量两类。

    所谓测量,是指被测的址和测量单位的标准量直接比

较后,就可得到其值。例如用百分尺测量直径、用游标卡

尺测量长度,既是直接测量,又是测量,


    所谓相对测量,是指被测的量要与标准件进行比较之后,’

根据偏差值才能确定被测的量的大小。例如用指示千分尺测量

轴径、用测微仪和量块测量圆柱直径等。


    相对测量方法的出现,是测量技术的一个进步,它使测量

仪器的结构大为简化,便于采用各种原理进行放大,获得更高

的梢度,同时由于与标准件比较,所以对测量条件的要求可以

适当放宽些。


    (3)接触测量和非接触测量:

    从接触形式的不同,测量可分为接触测量和非接触测量两

种。

    所谓接触测量,是指测量时,量具或量仪的测头直接与被

测零件表面接触。例如用深度尺测量梢深等。


    所谓非接触测量,是指测量时,测量显微镜或量仪与被测零

件无直接机械接触,而是通过其他介质(如光、气流等)与零件接

触。例如在投影仪上将放大了的零件轮廓与标准的放大图进行

比较;用气动量仪测量孔径等。


文章载录自:金相显微镜百科(http://www.bjsgyq。。com/)

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