什么是测量方法?测量方法有哪些?测量显微镜常识

金相显微镜

什么是测量方法?测量方法有哪些?测量显微镜常识

    所谓测量方法，是指测量过程中所用的量具或计量仪器和

测量条件的总和，包括比较的方式(测量原理)等。具休包括以下

几点:①具有一定精度指标的量具和计zui仪器;②被测零件的特

性及其参数特点;⑧标准件;④测员基面及其定位形式;⑤瞄准

形式;⑥测量力和接触形式;⑦测量的客观条件(温度、湿度等)。

测量显微镜测量方法有以下几种:

    (1)直接测量和间接测量

    从获得测员结果的方式不同，测量可分为直接测zui和间接

测量两类。所谓直接测量就是测量结果可以直接地由量具或

址仪的读数装置上读得被测的量的大小，例如用千分尺测量一

个外圆柱直径、用游标卡尺测zui一段长度等，所谓间接测量，

就是测量的结果不是直接获得的，而是由测量与其有一定关系

的量，通过计算得到被测的量的大小。例如用正弦规测zui锥体

的锥角，用圆柱(圆球)法测景大圆弧半径，用弓高弦长法测

量一段非整圆的圆弧半径等，测量后，要经过计算才能得到被

测的量的大小。

    (2)测量和相对测量:

    从比较方式的不同，测量可分为测量和相对测量两类。

    所谓测量，是指被测的址和测量单位的标准量直接比

较后，就可得到其值。例如用百分尺测量直径、用游标卡

尺测量长度，既是直接测量，又是测量，

    所谓相对测量，是指被测的量要与标准件进行比较之后，’

根据偏差值才能确定被测的量的大小。例如用指示千分尺测量

轴径、用测微仪和量块测量圆柱直径等。

    相对测量方法的出现，是测量技术的一个进步，它使测量

仪器的结构大为简化，便于采用各种原理进行放大，获得更高

的梢度，同时由于与标准件比较，所以对测量条件的要求可以

适当放宽些。

    (3)接触测量和非接触测量:

    从接触形式的不同，测量可分为接触测量和非接触测量两

种。

    所谓接触测量，是指测量时，量具或量仪的测头直接与被

测零件表面接触。例如用深度尺测量梢深等。

    所谓非接触测量，是指测量时，测量显微镜或量仪与被测零

件无直接机械接触，而是通过其他介质(如光、气流等)与零件接

触。例如在投影仪上将放大了的零件轮廓与标准的放大图进行

比较;用气动量仪测量孔径等。

文章载录自：金相显微镜百科(http://www.bjsgyq。。ｃｏｍ/)