邦纳
全新双模Q4X激光测距传感器，适用于透明目标检测和判错应用
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邦纳升级Q4X激光测距传感器，提供双示教模式。经过固件升级，双示教模式的Q4X传感器的窗口阈值结合了目标距离测量和目标反射密度测量两种测量模式，使得以往困难的应用问题得以轻松解决。
现在Q4X不需要加装反光镜也可以检测透明目标物。双模检测方式更可应用于判错检测，以确保正确的颜色零部件被置于正确的位置上。
Q4X系列传感器一直是基于距离传感困难的应用设备的理想之选，不论物体表面反射情况如何它都可以准确检测，包括黑色塑料上是黑色泡沫、金属前面的黑色橡胶、各种颜色的包装和各种颜色的目标物体。
其检测精度可达1mm，检测范围从25mm到300mm。在双示教模式下，Q4X可检测到其距离阈值范围内，不同目标物体反射强度的微小变化。这一强大的组合使Q4X可适用于更多的应用。
秉承邦纳一贯的用户简单易用的操作体验，Q4X本体上具有一个可视度高，带角度的四位数显示显示器，让用户在多个角度均可方便查看检测状态。同时，Q4X还可通过显示器下的三个触感的按钮即可进行简单直观地设置。
Q4X拥有坚固的构造，防护等级为IP67, IP68 或 IP69K，可适用于潮湿、高压直冲的环境。耐用的FDA等级不锈钢结构，可以抗机械碰撞、安装过紧、剧烈震动和侵蚀性清洗。
