在测量含镀层金属样品时，电感耦合等离子体(ICP)和HDXRF的分析结果有时会不一样。本应用报告解释了出现这一情况的原因，以及如何辨别样品是否含有镀层。此外，这里还介绍了一种将含镀层金属样品分析结果的偏差控制在zui小范围的方法。
为什么ICP和HDXRF的分析结果会不一样？
图1是含镀层金属样品的示意图，通过其切面可以看到暴露的块体合金。含镀层金属样品至少由两部分组成：块体金属合金和镀层材料。如果块体合金上有多个镀层，那么样品就可能包含两个以上的组成部分。与块体材料相比，镀层材料厚度一般非常薄。无论样品是含镀层的还是同质的，ICP的样品测量方法都保持不变：从样品上切下一小块，然后将其研磨成粉末，如图2所示。
之后再将粉末溶解到酸溶液中，并用ICP分析仪进行测试。考虑到块体材料相对镀层材料的高质量比，
ICP分析结果在很大程度上偏向于块体材料的元素组成。H与ICP不同，HDXRF是一种偏向于表面的分析技术，HDXRF分析仪的探头与样品表面直接接触，如图3所示。因此，在测量同质金属样品时，ICP和HDXRF的分析结果会十分相似。然而，如果被测对象是含镀层金属样品，HDXRF的分析结果偏向于镀层材料的组成，而ICP的分析结果则更加偏向块体材料的组成。
如何识别含镀层样品？
用HDXRF可以快速、轻易地判断样品是否含有镀层。首先，使用HDXRF分析仪对金属样品的表面进行快速测量。其后，磨光、刮净或切削样品以暴露块体材料。zui后对块体材料再进行一次测量。如果样品是同质的，两次测量的元素组成分析结果将是相同的；如果样品含镀层，两次测量的结果便会有差异。
将含镀层金属样品分析结果的偏差控制在zui小范围
在对比HDXRF和ICP分析结果时，有一点必须注意：在同一个样品上使用两种技术进行测量。原因在于，即使两个样品外观*相同，其元素组成仍然可能存在差异。使用单同一样品则可以消除这一因素带来的潜在偏差。此外，在样品含镀层的情况下，如果必须将其研磨成粉末用ICP分析，届时可以用HDXRF对金属粉末进行测量，得到与ICP相似的结果。
排除铅的担忧！
目前所的镀层金属中铅的定量分析方法都建议将样品整体进行研磨，然后用所得到的浓度结果作为认证依据。然而在有些场景下，镀层材料中含有高浓度的铅(超过100ppm)，而基体只含有极少量或*不含铅。如果镀层厚度十分薄，那么在ICP的分析报告中，由于其结果偏向于块体材料，可能会得到铅“未检出”(ND)的结果。这对力图生产无铅产品的厂商来说是一个重大的隐患。HDXRF作为一种行之有效的手段，可以对含镀层金属样品中的含铅区域进行定性分析，帮您排除这一担忧。
在消费品安全和合规检测应用中，例如儿童用品、玩具、服装以及电子产品等，XOS提供的高分辨率XRF (HDXRF®) 分析仪能够无损检测其中的重金属和毒性元素，大大缩短了分析时间并降低了系统复杂程度，聚焦激发光技术让分析区域直径小至1mm，对小面积和不规则形状样品分析准确；多束单色光激发能分别测出涂层和基体中的有毒元素成分，而传统XRF技术则无法企及。
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