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PSJSC-A介质损耗测试仪概况

介质损耗测试仪是一种测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。它淘汰了QSI高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗干扰能力强， 测试时间短等优点;另外,本仪器针对电容式电压互感器(CVT)试验困难的特点,增设了外接法测试,外接标准电容器、调压器,使得测试非常简单可靠。

二、技术指标

1、环境：-5℃～40℃（液晶屏应避免长时间日照）

  2、相对湿度：30%～70%

  3、供电电源：电压：220V±10%，频率50±Hz

  4、外形尺寸：长*宽*高=435mm*300mm*300mm

  5、重量：20kg

  6、输出功率：1KVA

  7、显示分辨率：3位、4位（内部全是6位）

  8、测试方法：正接法、反接法、外接法

  9、测量范围：内接试验电压：≤60000PF

               外接试验电压：≤10μF

  10、基本测量误差：

             介质损耗（tgδ）：1.5%±0.09%

电容容量（Cx）：1.0%±2PF

结构

仪器为升压与测量一体化结构，输出电压2.5KV～10KV五档可调，以适应各种需要，在测量时无需任何外部设备。接线与QSI电桥相似，但比其方便。

PSJSC-B变频CVT抗干扰介质损耗测试仪概述

介损测试仪是发电厂、变电站等现场全自动测量各种高压电力设备介损正切值及电容量的高精度仪器。由于采用了变频技术能保证在强电场干扰下准确测量。仪器采用中文菜单操作，微机自动完成全过程的测量。该仪器同样适用于车间、试验室、科研单位测量高压电器设备的tgδ及电容量；对绝缘油的损耗测试、更具有方便、简单、准确等优点。该仪器可用正、反接线方法测量不接地或直接地的高压电器设备，还可以测量电容式电压互感器的tgδ及主电容C1、C2电容量。内部装备了高压升压变压器，并采取了过零合闸、防雷击等安全保护措施。试验过程中输出0.5KV～10kV不同等级的高压，操作简单、安全。

本仪器设有以下保护功能：

·高压短路保护

·CVT过压保护

·仪器接地不好保护

工作原理

在交流电压作用下，电介质要消耗部分电能，这部分电能将转变为热能产生损耗。这种能量损耗叫做电介质的损耗。当电介质上施加交流电压时，电介质中的电压和电流间存在相角差Ψ，Ψ的余角δ称为介质损耗角，δ的正切tgδ称为介质损耗角正切。tgδ值是用来衡量电介质损耗的参数。仪器测量线路包括一标准回路（Cn）和一被试回路（Cx），如图1所示。标准回路由内置高稳定度标准电容器与测量线路组成，被试回路由被试品和测量线路组成。测量线路由取样电阻与前置放大器和A／D转换器组成。通过测量电路分别测得标准回路电流与被试回路电流幅值及其相位等，再由单片机运用数字化实时采集方法，通过矢量运算便可得出试品的电容值和介质损耗正切值。仪器内部已经采用了抗干扰措施，保证在外电场干扰下准确测量。

主要技术参数

1、高压输出：0.5～10kV，

每一档增加500V，共有二十档，容  量：1500VA

2、准确度： tgδ: ±(读数*1.5%+0.06%)

Cx: ±(读数*1.5%+5PF)

3、分 辨 率：tgδ：0.001％  Cx：0.001pF

4、测量范围：0.001% ＜  tgδ  ＜ BAI分之百

              内施高压：3pF～60000pF/10kV  60pF～1µF/0.5kV

              外施高压：3pF～1.5µF/10kV  60pF～30µF/0.5kV

电   源：AC 220V士10％   50士1Hz

测量方式：a.单频：45Hz、50Hz、55Hz、60Hz、65Hz

                 b.异频：45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自动双变频         

7、谐波适应： ≤3％

8、使用条件： -15℃－50℃    相对湿度＜80%  

9、外型尺寸：460（L）×345（W）×345（H）

10、重  量：35 kg

仪器成套性

PSJSC-C变频抗干扰介质损耗测试仪(带CVT测量和变比测量)

1. 用途特点及性能

介质损耗测试仪用于现场抗干扰介损测量，或试验室精密介损测量。仪器为一体化结构，内置介损电桥、变频电源、试验变压器和标准电容器等。采用变频抗干扰和傅立叶变换数字滤波技术，全自动智能化测量，强干扰下测量数据非常稳定。测量结果由大屏幕液晶显示，自带微型打印机可打印输出。

主要技术指标

1.1.1介损和电容量测量

准确度：             Cx:         ±（读数×1%+1pF）

tgδ: ±（读数×1%+0.00040）

抗干扰指标：      变频抗干扰，在200%干扰下仍能达到上述准确度

电容量范围：      内施高压：   3pF~60000pF/10kV            60pF~1.2μF/0.5kV

外施高压：   3pF~1.5μF/10kV          60pF~30μF/0.5kV

分辨率：             ZUI高0.001pF，4位有效数字

tgδ范围：    不限，分辨率0.001%，电容、电感、电阻三种试品自动识别。

试验电流范围：10μA~5A

内施高压：   设定电压范围：   0.5~10kV

ZUI大输出电流：   200mA

升降压方式：             连续平滑调节

电压精度：          ±(1.5%×读数+10V)

电压分辨率：             1V

试验频率：   45~65Hz整数频率

45/55Hz、47.5/52.5Hz、49/51Hz、55/65Hz等自动双变频

频率精度：±0.01Hz

外施高压：   正接线时ZUI大试验电流1A / 40~70Hz

反接线时ZUI大试验电流10kV / 1A / 40~70Hz

CVT自激法低压输出：输出电压3~50V，输出电流3~30A

CVT变比测量

变比范围：10~99999

变比精度：±读数×1%

相位范围：0~359.999°

相位精度：±0.02°

1.1.2其它指标

输入电源：   180V~270VAC，50Hz/60Hz±1%，市电或发电机供电

计算机接口：      标准RS232接口

打印机：             自带微型热敏打印机

环境温度：   -10℃~50℃

相对湿度：   <90%，不结露

选型主要技术指标简表

1.2 电容及介损测量主要功能特点

1.2.1变频抗干扰

采用变频抗干扰技术，在200%干扰下仍能准确测量，测试数据稳定，适合在现场做抗干扰介损试验。

1.2.2高精度测量

采用频率浮动、数字波形分析和电桥自校准等技术，配合高精度三端标准电容器，实现高精度介损测量，并且正/反接线测量的准确度和稳定性一致。

仪器所有量程输入电阻低于2Ω，消除了测试线附加电容的影响。

可外接油杯做精密绝缘油介损试验，可外接固体材料测量电极做精密绝缘材料介损试验。

1.2.3兼容性好

自动识别50Hz / 60Hz系统电源，支持发电机供电，即使频率波动大，也可正常测量。

内置串联和并联两种介损测量模型，可与校验台和介损标准器WAN全兼容，方便仪器检定。

1.2.4多级安全保护，确保人身和设备安全

高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能以短路方式高速切断输出。

低压保护：误接380V、电源波动或突然断电，启动保护，不会引起过电压。

接地保护：仪器接地不良使外壳带危险电压时，启动接地保护。

C  V  T：高压电压和电流、低压电压和电流四个保护限，不会损坏设备；误选菜单不会输出激磁电压。CVT测量时无10kV高压输出。

防误操作：两级电源开关；电压、电流实时监示；多次按键确认；接线端子高/低压分明；缓速升压，可迅速降压，声光报警。

防“容升"：测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升"效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。

抗震性能：仪器采用DU特抗震设计，可耐受强烈长途运输震动、颠簸而不会损坏。

高压电缆：为耐高压绝缘导线，可拖地使用。

1.2.5技术突破，功能强大

（1）具有外接标准电容器接口，自动跟踪外接试验电源频率40Hz~70Hz，支持工频电源和串联谐振电源做大容量高电压介损试验。

（2）具有回路接触不良放电提示功能，以方便判别接线是否可靠。

（3）具有CVT自激法测量功能，C1/C2可一次接线同时测出，自动补偿母线接地和标准电容器的分压影响，无须换线和外接任何配件，并且高压连接线可以拖地。

（4）具有CVT变比功能，可测量CVT变比、极性和相位误差。

（5）具有反接线低压屏蔽功能，在220kVCVT母线接地情况下，对C11可进行不拆线10kV反接线介损测量，并且可一次接线同时对主、从两个电容进行测量。

（6）中文图文菜单，大屏幕背光LCD显示。

（7）配置热敏打印机，打印数据清晰快捷、无噪音。

（8）带日历时钟，可存储100组测量数据。

（9）带计算机接口(选配)。通过该接口，实现测量、数据处理和报表输出，也可实现仪器内部测量软件升级。一台计算机可控制32台仪器，可集成到综合高压试验车上。

1.2.6抗干扰能力

设置一个回路向仪器注入定量的干扰电流。

注意：

1）应考虑到该回路可能成为试品的一部分。

2）仪器启动后会使220V供电电路带有测量频率分量，如果该频率分量又通过干扰电流进入仪器，则无法检验仪器的抗干扰能力。

3）不建议用临近高压导体施加干扰，因为这样很容易产生近距离尖DUAN放电，这种放电电阻是非线性的，容易产生同频干扰。

1.2.7.变频测量讨论

1变频测量

干扰十分严重时，变频测量能得到准确可靠的结果。例如用55Hz测量时，测量系统只允许55Hz信号通过，50Hz干扰信号被有效抑制，原因在于测量系统很容易区别不同频率，由下述简单计算可以说明选频测量的效果：

两个频率相差1倍的正弦波叠加到一起，高频的是干扰，幅度为低频的10倍：