EDX-A7-X荧光镀层测厚仪EDX_X荧光镀层测厚仪EDX-A7-新典仪器（杭州）有限公司手机版

产品简介

X荧光镀层测厚仪EDX，专门针对金属合金、铝型材、塑料等材料镀层分析、达克罗涂覆层分析的普及机型，可盲测（即：无需标准样品标定），即可对客户样品镀层膜厚测试、基材成分分析，降低客户购买标准样品（尤其是特殊样品）成本。精心设计的开放式工作曲线功能，特别适用于工艺复杂材料的工厂镀层、涂层的制程控制。

产品优势

01 无标样测厚

可不用标准样品标定，即对样品镀层膜厚进行精准测试

02 微调平台

仪器外部对样品微调设计，降低及防止样品放置好后关闭样品盖产生振动而使测试位置发生变化导致的测试不准确性

03 开放式工作曲线

开放式工作曲线标定平台,可为每家用户量身定做最佳的镀层分析工作曲线

产品详情

专门针对金属合金、铝型材、塑料等材料镀层分析、达克罗涂覆层分析的普及机型，可盲测（即：无需标准样品标定），即可对客户样品镀层膜厚测试、基材成分分析，降低客户购买标准样品（尤其是特殊样品）成本。精心设计的开放式工作曲线功能，特别适用于工艺复杂材料的工厂镀层、涂层的制程控制。

规格参数

分析元素范围：

S-U中的元素

检测厚度：

0.001um

检测厚度上限：

30 -45um（视材料而定）

检测镀层层数：

1-6层（视材料而定）

测量时间：

30-120s ( 系统自动调整 )

最佳分辨率：

140±5eV

仪器尺寸：

小于690(W)x420(D)x400(H)mm

样品腔尺寸：

小于310*350*100mm；

输入电源：

AC220V～240V，50/60Hz

额定功率：

350W

重量：

约50Kg

工作环境温度：

温度15—30℃

工作环境相对湿度：

≤85%（不结露）