| 序号 | 内容 | 数量 | 简要要求 | 用途 |
| 1 | X射线光电子能谱仪（XPS） | 1台 | 配备微聚焦单色化X射线源，最小聚焦获得束斑≤20µm，X射线光斑尺寸在20-400μm范围内可调，最大功率150 W | X射线光电子能谱仪主要对固体表面的成分进行表征，包括各种粉末材料、高分子材料、新型光电材料、功能材料、陶瓷、玻璃、高分子聚合物、金属、半导体、石墨烯、电池材料等研究领域，设备应具备单色化XPS、微区XPS、成像XPS、UPS紫外光电子能谱分析、REELS反射电子能量损失谱分析、原位RAMAN拉曼光谱分析、氩离子刻蚀枪套件、自动化多轴样品台、超高真空测量装置功能等。 |
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