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nanofilm SPEM

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源顺科技仪器有限公司

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nanofilm呈像椭偏仪

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公司产品主要有:X射线衍射系统;多功能稳定度分析仪 ;奈米颗粒大小分析仪;光电制造和检测系统;粘度分析系统;粒度及微流变分析系统;数字全析显微镜;呈象椭偏仪,布氏角显微镜,LB 薄膜分析;接触角及表面张力分析仪;沾笔式纳米制程技术;在线粘度计;原子薄膜沉积仪。
源顺有限公司

源顺有限公司是一家专门从事纳米科技,材料分析,光电产品检测及生产设备销售和技术咨询的高科技公司。我们*代理具有*水平的分析仪器,产品涵盖了微观结构观察,物理性能,力学性能及电磁学性能。
Total Solution ,为客户提供整体解决方案,是源顺公司一贯坚持的宗旨。 这个宗旨象征*、品质与客户服务,并将在新的世纪中,全面提升服务品质以伴随您的阔步发展。
源顺公司秉持企业文化:『诚信』、『品质』、『服务』、『团队』、『创新』,本着其宗旨『Total Solution』,继续将*的技术,以Z佳的成本效益,提供客户*质的精密分析仪器和生产设备,并坚持Z*的服务。

公司产品主要有:
LUM公司: 多功能的颗粒状态与稳定度分析仪
Qudix公司: 奈米 & 微米颗粒大小分析仪。
Scinco公司: 可见光及紫外光光度计(UV-Vis Spectrophotometer), Colormate。
SOFRASER公司: 在线粘度计。
ProRheo公司: 高阶粘度计。
Rame-hart公司: 接触角及表面张力分析仪。
AET 公司: 微波诱电分析仪
NANOFILM公司: 呈象椭偏仪,布氏角显微镜,LB 薄膜分析。
UNIOPT公司: 双折射分析仪。
NonoInk: Dip Pen Nanolithography (DPN) 沾笔式纳米制程技术。
ANASYS 公司: Nano-Thermal Analysis。
PNI公司: 原力显微镜(AFM)
Capres公司: MRAM,写磁头的MTJ 磁阻和隧阻&材料表面 Nano微区范围的阻抗分析.
LYNCEETEC公司: DHM (数字全析显微镜)
BEDE公司: 高分辨X射线衍射仪。
OMI公司: Solstice (晶圆或外延片的能阶Bandgap分析,Strained Silicon 分析)。
Equinox (IC or MEMS封装应变,3D热机械变形及CTE分析)。
Pascal公司: 脉冲雷射溅镀MBE(PLD MBE) – ZnO, GaN, etc.。
Cambridge Nano Tech: 原子薄膜沉积仪 (ALD).
EpiQuest公司: 研发型 MOCVD,MBE,VCSEL 氧化系统。


源顺公司总部设在香港,在上海和北京设立了分公司,深圳和成都设立了办事处,并有强大的技术和维修队伍,为客户提供Z高水平的产品和服务。

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SPEM 是一项*的分析工具,它结合了扫描探针技术 (SPM) 和成像椭偏技术 。成像椭偏技术能很方便地可视化观察薄膜以及表面结构,而利用 SPM 技术可以把某些关注的点方大观察其纳米尺度细节。我们的 SPEM 整合了这两者技术,通过智能的试样处理,就可以分别进行观察,而不需要进行繁琐的试样位置调整。

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