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 JW-BK122W型 比表面及孔径分析仪

精微高博是比表面积测定仪的厂商,精微高博比表面积测定仪一并荣获中国*测试证书,*及CE认证并且还有*的产品是通过**

精微高博比表面仪具有专有的双级真空技术，多级压力传感器，国内*可进行微孔分布测试的仪器。

比表面积测定仪功能

比表面测定：      BET（单点、多点）比表面、Langmuir比表面、外表面测定

BJH孔径分布测定：      总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布

微孔常规分析：      微孔总孔体积、总内表面积（t-图、D&R、MP等）

微孔孔径分布测试：    氮分压10-7 - 10-1范围的等温吸附曲线测定                                           0.35-2nm微孔孔径分布分析（HK或FS法）

比表面积测定仪真密度测试

比表面积测定仪技术参数

比表面积测定仪原理方法：  低温氮吸附，静态容量法

比表面积测定仪吸附气体：  高纯氮气，也可用氪、氦、二氧化碳等其他气体

比表面积测定仪极限真空：  4 - 6.7×10-3 Pa （ 3 - 5×10-5 Torr）

比表面积测定仪氮气分压：  4×10-7 –0.995

比表面积测定仪控制精度：  测试压力点控制zui小间隔可小于0.1 KPa （0.75  Torr），测试点可多达一千个。

                         10-7-10-1范围测试压力点大于50点

比表面积测定仪测试范围：  比表面  ≥ 0.005 M2/g，无规定上限

                         介孔孔径分析 2 - 400nm

                         微孔孔径分析0.35 - 2nm

比表面积测定仪测试精度：  ≤±2%

                          0.35-2nm 微孔zui可几孔径重复精度 ≤0.02nm

比表面积测定仪测试效率：  多点BET比表面每样平均20min

                          孔径分析时间随材质不同各异

比表面积测定仪预 处 理：  两个样品同位处理，温度50-400℃，±1℃

比表面积测定仪软件：  BET（单点、多点）、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R、HK、FS等

比表面积测定仪特色

    ◎  比表面仪具有国内*通过*技术鉴定的产品，控制和测试精度达到*水平；

    ◎  比表面仪具有*双级真空系统，测试系统实际真空度可达0.01Pa，P/Po达10-7，

          基本满足了微孔测试条件；

    ◎  比表面仪具有*的抽气与充气速度精密控制技术，保证了测试的准确性和安全性；

    ◎  比表面仪具有*的液氮面多途径控制与校正技术，连续测试10小时也不需添加液氮；

    ◎  比表面仪具有完善的标准等温线数据库和规范的分析方法，微孔常规测试技术国内；

    ◎  比表面仪具有国内*拥有微孔分布测试软件技术（HK、FS等）

    ◎  比表面仪具有软件功能齐全、界面友好、操作方便、实时显示样品的吸、脱附压力变化及平衡过程；

    ◎  比表面仪具有实验全程自动化、智能化控制，长时间运行*可以无人值守；

静态容量法比表面测试仪特点之真密度测试：

技术参数：

     JW-BK系列静态容量法比表面及孔径分析仪，适用于各种粉体材料、固体材料等的真密度分析，*的高精度真密度测试功能，测试时间不超过3分钟/次，连续测试次数用户可以自行定义，zui高次数可达10次。

★ 重复性：± 0.015 %；

★ 精确度：± 0.02 %；

★ 测试分辨率：0.00001 g/cm3