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JW-BK122W 云母BET比表面仪
- 型号
- JW-BK122W
该企业相似产品
比表面积，BET比表面,孔隙率分析仪, 孔径分析仪,比表面积及孔径分析仪,比表面积及孔隙率测定仪
北京精微高博科学技术有限公司
精微高博公司致力于比表面仪的研发、生产和销售，是北京科委批准的**。公司拥有一批材料研究、仪器仪表及计算机领域专家及顾问团队，潜心于材料表面特性表征与测试方法的结合研究，致力于为高校、科研单位及大中型生产企业提供高效、精确可靠的分析测试仪器。公司主要产品：JW-04、JW-DA、JW-RB及JW-BK系列型比表面积及孔径分布分析测试仪；配套产品有比表面积测试样品准备装置--JW吹扫机。前两款为本公司的新型仪器，分别采用上通用的静态容量法，该技术达到*水平，*。同时后两款在动态氮分压精确控制等技术方面又有很多新的突破和创新，整体设备性能无论从测试精度、稳定性、测试结果可重复性还是测试高效性等方面都达到了同类产品水平，国内处于*地位。专业、完善、及时、高效的售后服务更是得到了用户的赞誉。
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详细信息
JW-BK122W型 比表面及孔径分析仪
精微高博是比表面积测定仪的厂商,精微高博比表面积测定仪一并荣获中国*测试证书,*及CE认证并且还有*的产品是通过**
精微高博比表面仪具有专有的双级真空技术，多级压力传感器，国内*可进行微孔分布测试的仪器。
比表面积测定仪功能
比表面测定： BET（单点、多点）比表面、Langmuir比表面、外表面测定
BJH孔径分布测定： 总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布
微孔常规分析： 微孔总孔体积、总内表面积（t-图、D&R、MP等）
微孔孔径分布测试： 氮分压10-7 - 10-1范围的等温吸附曲线测定 0.35-2nm微孔孔径分布分析（HK或FS法）
比表面积测定仪真密度测试
比表面积测定仪技术参数
比表面积测定仪原理方法： 低温氮吸附，静态容量法
比表面积测定仪吸附气体： 高纯氮气，也可用氪、氦、二氧化碳等其他气体
比表面积测定仪极限真空： 4 - 6.7×10-3 Pa （ 3 - 5×10-5 Torr）
比表面积测定仪氮气分压： 4×10-7 –0.995
比表面积测定仪控制精度： 测试压力点控制zui小间隔可小于0.1 KPa （0.75 Torr），测试点可多达一千个。
10-7-10-1范围测试压力点大于50点
比表面积测定仪测试范围： 比表面 ≥ 0.005 M2/g，无规定上限
介孔孔径分析 2 - 400nm
微孔孔径分析0.35 - 2nm
比表面积测定仪测试精度： ≤±2%
0.35-2nm 微孔zui可几孔径重复精度 ≤0.02nm
比表面积测定仪测试效率： 多点BET比表面每样平均20min
孔径分析时间随材质不同各异
比表面积测定仪预 处 理： 两个样品同位处理，温度50-400℃，±1℃
比表面积测定仪软件： BET（单点、多点）、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R、HK、FS等
比表面积测定仪特色
◎ 比表面仪具有国内*通过*技术鉴定的产品，控制和测试精度达到*水平；
◎ 比表面仪具有*双级真空系统，测试系统实际真空度可达0.01Pa，P/Po达10-7，
基本满足了微孔测试条件；
◎ 比表面仪具有*的抽气与充气速度精密控制技术，保证了测试的准确性和安全性；
◎ 比表面仪具有*的液氮面多途径控制与校正技术，连续测试10小时也不需添加液氮；
◎ 比表面仪具有完善的标准等温线数据库和规范的分析方法，微孔常规测试技术国内；
◎ 比表面仪具有国内*拥有微孔分布测试软件技术（HK、FS等）
◎ 比表面仪具有软件功能齐全、界面友好、操作方便、实时显示样品的吸、脱附压力变化及平衡过程；
◎ 比表面仪具有实验全程自动化、智能化控制，长时间运行*可以无人值守；
静态容量法比表面测试仪特点之真密度测试：
技术参数：
JW-BK系列静态容量法比表面及孔径分析仪，适用于各种粉体材料、固体材料等的真密度分析，*的高精度真密度测试功能，测试时间不超过3分钟/次，连续测试次数用户可以自行定义，zui高次数可达10次。
★ 重复性：± 0.015 %；
★ 精确度：± 0.02 %；
★ 测试分辨率：0.00001 g/cm3
公司荣誉
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中关村*协会理事单位
中国分析测试协会会员单位
北京粉体技术协会理事单位
*受*专家进行产品鉴定的企业
欧盟安全体系认定证书
中国计量研究院仪器校准证书
北京市可引进人才进京落户单位
公司的核心价值
发展；尊重人才与创新；以服务客户为己任。
