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非破坏测厚仪

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深圳市瑞思远科技有限公司

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1化学镍自动加药系统,酸性蚀刻添加系统,镀金自动添加系统,禾威WALCHEM WCU/WNI/WEC/WPH 控制器,倒置式金相显微镜;金相消耗品;手提式涂层测厚仪;长臂板厚测量仪;荧光金属镀层测厚仪;测厚仪/标准片;磨抛机;研磨/抛光两用机;金相切割机;环氧乙烷灭菌箱;比重-密度天平;电子分析天平;镀镍自动添加系统;X射线测厚仪;镀铜蚀铜自动添加控制器;导电率自动添加控制器;凝胶化时间测试仪;水质测试包;铜箔抗剥离强度测试仪;

深圳市瑞思远科技有限公司是一家以金盐加药器,韩国膜厚仪,镍药水自动分析,化学镀镍自动分析,电镀镍药水分析,日本水质测试包,酸性蚀刻自动分析,德国多参数分析仪,美国WALCHEM产品销售实验室品质检测仪器为主营业务,专业从事电子电路行业的测试仪器、试验设备及金相耗材、PCB板耗材、电子厂周边耗材销售的企业。

本公司综合实力强、业务广泛。批发、零售各种品质检测仪器和精密电子天平及电子产品周边金相消耗品,规格齐全,品种繁多。产品广泛应用半导体、光电技术、PCB 厂、电子厂、电镀及材料分析、化工、纺织、医疗、食品、电子、机械、建设等行业,深受用户好评。
“可靠的质量,优质的服务"是我们的宗旨。我们拥有*的技术人才,提供售前技术指导和完善的售后服务,使顾客买得放心,用得安心。
公司主营产品:化学镍自动加药系统,酸性蚀刻添加系统,镀金自动添加系统,禾威WALCHEM镀铜蚀铜自动添加控制器;威颂WS-8000,C6化铜、微蚀铜、化镍控制器,COD分析仪,倒置式金相显微镜;金相消耗品;手提式涂层测厚仪;长臂板厚测量仪;荧光金属镀层测厚仪;测厚仪/标准片;磨抛机;研磨/抛光两用机;金相切割机;环氧乙烷灭菌箱;比重-密度天平;比重电子天平;电子分析天平;电子天平;新光电子天平;镀镍自动添加系统;X射线测厚仪;导电率自动添加控制器;凝胶化时间测试仪;水质测试包;铜箔抗剥离强度测试仪;

 

详细信息

韩国MicroPioneer X-射线荧光膜厚仪/测厚仪,主要应用于一般工件、线路板、五金电镀、半导体支架电镀、人造首饰、端子及电子元器件等产品的各种镀层行业的一款仪器,全自动软件操作,多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台,是一款功能强大的仪器

 

现在市场上膜厚仪主要有:菲希尔(FISCHER), 精工(SII),韩国(MicroPioneer),牛津(CMI)。国产的有:天瑞,三V仪器。在测量精度和性能上,国产的基本上是没用,只能摆着看。

 膜厚仪在稳定,故障率,和精度,方面来讲,只能说菲希尔(FISCHER)韩国(MicroPioneer),牛津(CMI)这四*是*。市场上占有率zui大的也是这四*,

四*主要用于五金电镀厂,钟表,端子,连接器,TED,卫浴,线路板,及一些复杂的电镀领域,如合金镀层,二元合金,三元合金,等多元合金

菲希尔(FISCHER)占有市场的30%,在测量精度,还是仪器稳定上来说都很不错。但由于价格高昂,维修,消耗品(如标准片,一片的价格可以买其他品牌的3片,且无法更换其他品牌的使用)虽然仪器精度高。稳定性好。但市场主要为早期所建立。  

        精工(SII)主要对应大的日资企业,软件应用,相比菲希尔要麻烦一些。它所采用的是标准曲线法,来建立测量档案。所以需要大量的厚度不一的标准块。仪器稳定性和精度也还是不错的。不过有一点。日本原装的,比上海组装的要好。现在精工所销售的。大部份是上海组装的。品质相对的来说。会差一点。售后维修也是高昂,且中国人民也是抵制日货的。

       韩国(MicroPioneer)和牛津(CMI),  而牛津(CMI)因为配置是zui低端的配置如CMI900所以价格比较低,测量数据没有四年前进口机型稳定。zui主要的是故障率太高了,更换配件的成本很高。CMI也是用标准曲线法来建立测量档案的。也需要购买标准块,虽然价格低。但后期一但出现故障要更换配件。而且在对于合金镀层,和薄金。薄镍,等一些元素的测量上,那个误差大的相当离谱。甚至测不到。

        韩国(MicroPioneer)有高中低3个款型,测试的准直器也有1-5个可选,除了对复杂的电镀领域(如金厚度为0.01um以下)的不是很准确,其他镀层都可以测试达到标准,主要价格方面低过菲希尔(FISCHER), 精工(SII),牛津(CMI)许多,在每年的软件更新后和硬件的升级。也受到国内厂商的大力好评,如美的(美的顺德,武汉,重庆,合肥,芜湖,都以采购使用),比亚迪(2012投标以使用),富士康(2007年使用之今)等多个客户群。可以来电 深圳市瑞思远科技有限公司 索取使用客户资料。

       

 

产品介绍

X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分,可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。 

XRF-2000 系列分为以下叁种: 

1. H-Type :密闭式样品室,方便测量的样品较大,高度约100mm以下。 

2. L-Type : 密闭式样品室,方便测量 样品较小,高度约30mm以下。 

3. PCB-Type : 开放式样品室,方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测   

 

应用

测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可侦测元素的范围: Ti(22)~U(92 )  

 

行业

五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。

 

特色

非破坏,非接触式检测分析,快速精準。

可测量高达六层的镀层五层厚度   底材并可同时分析多种元素。

相容Microsoft微软作业系统之测量软体,操作方便,直接可用Office软体编辑报告

全系列*设计样品与光径自动对準系统。

标準配备: 溶液分析软体 ,可以分析电镀液成份与含量。

準直器口径多种选择,可根据样品大小来选择準值器的口径。 

移动方式:全系列全自动载台电动控制,减少人为视差  

*2D3D或任意位置表面量测分析。

雷射对焦,配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。

标準ROI软体 搭配内建多种专业报告格式,亦可将数据、图形、统计等作成完整报告

光学2 0X 影像放大功能,更能精确对位。 

单位选择: mils uin mm um

优於美製仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的*优势。 

仪器正常使用保固期一年,强大的专业技术支援及良好的售后服务。

测试方法符合 ISO 3497 ASTM B568 DIN 50987

 

韩国Micro Pioneer 还推出一款元素分析及测厚两用的XRF-2000R型号

Micro Pioneer XRF-2000R X光镀层测厚仪及ROHS元素分析仪

是在XRF-2000系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能,

其物点为:高分辨率,固态探测器; 可分析超薄样品

分析有害物质,元素分析分之 ppm - 100, 符合RoHS / WEEE标准测试以及ELV指令优化的应用;

可测量多层镀层厚度及锡铅成分分析;

电镀溶液分析;

定性分析超过30种元素,能够测量液体,固体,粉末,薄膜和不规则形状;

贵金属元素含量和分析(金,银,铂,和珠宝);

自动过滤器,多准直仪五个准直器,从0.1mm-3.0mm和全自动XYZ移动样品台;

性价比*的元素分析及镀层测厚双功能分析仪器

仪器尺寸:W610mm D670mm H490mm, 重量:75Kg (net) 

 

深圳市瑞思远科技有限公司

地址 :深圳市龙岗区布吉大芬村怡康家园彩虹阁13C

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  址:www.rsy17.com    www.rsy1718.com

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