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半导体框架铜镀锡膜厚测量仪X-RAY测厚仪
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深圳市精诚仪器仪表有限公司，自创立以来以优质的产品和服务及良好的信誉，
得到了广大用户的认可，在业界迅速发展。
公司主要从事进口实验室检测设备和分析仪器的代理销售及其相关的售后服务
产品涵盖半导体、PCB及五金端子连接器水处理等行业.
针对不同客户,我司亦有以下产品可供选择：
主要经营产品：
韩国MicroPioneerXRF2000测厚仪、XRF-2020测厚仪,X-RAY膜厚仪
新加坡QMAX特性阻抗检测仪,
禾威化学镍自动添加系统
日本共立水质试剂盒。
公司本着“科技为先，质量为重，诚信服务”的宗旨
竭诚为您提供高品质的产品和优良的服务，与您携手共创美好未来
详细信息
半导体框架铜镀锡膜厚测量仪X-RAY测厚仪
铜上镀锡:
测量范围:0.3-50um
韩国MicroP XRF-2020测厚仪规格如下图
xrf-2020l测厚仪韩国微先锋膜厚仪
可测
单镀层,双多镀层,多镀层及合金镀层
镀银测量范围0.1-50um
镀镍测量范围0.5-30um
镀铜测量范围0.5-30um
镀锡测量范围0.5-50um
镀金测量范围0.02-6um
镀锌测量范围1-30um
锌镍合金测量范围1-25um
镀铬测量范围0.5-25um
仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量
多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换
韩国先锋XRF-2020L型H型
MicropXRF-2000,XRF-2020
功能特点:
全自动台面，自动雷射对焦，多点自动测量
仪器全系均为全自动台，自动雷射对焦！
多点自动测量
X射线测厚仪韩国微先锋XRF-2020膜厚仪可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换
电镀测厚仪X-RAY膜厚仪XRF-2020快速无损测量电镀层厚度，可测单镀层，双镀层，多层镀层及合金镀层
半导体框架铜镀锡膜厚测量仪X-RAY测厚仪
量测范围:0.3-50um
