镀层美国膜厚测试仪

俗称镀层测厚仪，膜厚测试仪，X-RAY膜厚仪等等.
用途：检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费. 
产品副名称：应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪. 

性能特点
+ 高效超薄窗X光管，指标达到*水平。 
+ 的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好。
+ SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。 
+ 产品—信噪比增强器（SNE），提高信号处理能力25倍以上。 
+ 低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好。 
+ 智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围。 
+ 自动稳谱装置保证了仪器工作的*性。
+ 高信噪比的电子线路单元。 
+ 针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐。 
+ 解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度。
+ 多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制。
+ 内置高清晰摄像头。 
+ 液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然。
: 舒翠 
手机:      
:       
传真:       
:      sc@kinglinhk.net 
地址:      宝安区沙井北环大道110号新桥综合大楼502