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X-4 上海精科物理光学厂X-4显微熔点仪
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品牌:上海仪电物理光学仪器有限公司 (原上海精科厂)
名称:显微熔点仪
型号:X-4
产品描述:
测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
技术参数:
熔点测量范围:室温至320℃
测量重复性:±1℃ (在<200℃ 时)
±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时)
温度显示小值: 1℃
熔点观察方式 单目显微镜
光学放大倍数 40×
同系列产品:
名称 | 型号 | 主要技术参数 |
熔点仪 | WRS-3 | 范围:室温~320℃,温度数显小示值0.1℃,示值误差:在环境温度为23℃±5℃时,应符合下列要求:(1)在<200℃范围内为±0.5℃时(2)在200-320℃范围为±0.8℃时,示值重复性:升温速率为1.0℃/min,样品的不确定度为0.3℃,线性升温速率误差不大于名义值的10% |
熔点仪(程控、数显) | WRR | 范围:40~280℃ 重复性:0.3℃ 小数单位:0.1℃(可同时测试3个样品) |
数字熔点仪 (微机、液晶数显) | WRS-1B | 范围:室温~300℃ 小读数:0.1℃ 接口输出RS232、通过PC显示熔化曲线 |
数字熔点仪 (微机、点阵液晶) | WRS-2 | 同上(直接显示熔化曲线及测量结果) |
WRS-2A | 同上(可同时测三个样品) | |
微机熔点仪 | WRS-2C | 范围:室温~300℃,温度数显小值:0.1℃,线性升温速度率:0.1℃/min之间任意连续, 测定熔点的示值误差:≤200℃;±0.4℃;>200℃;±0.7℃,重复性:0.3℃ |
微机熔点仪 | WRS-1C | 范围:室温-400℃,“起始温度”设定时间:50-400℃,不大于5min;设定时间:400-50℃,不大于7min;温度数显小示值0.1℃;线性升温速率:0.1-20.0℃/min之间任意连续可选;重复性0.3 |
全套显微热分析仪 (程控、数显) (显微熔点仪) | WRX-1S | 范围:室温~300℃ 重复性:0.4℃;小读数单位:0.1℃;(附XSP-8CA三目生物显微镜,CCD)(显示部分选购),总放大倍数40-1600X,调焦25mm,微动格值0.002mm;移动范围:横向50mm 纵向70mm |
显微熔点仪(数显) | X-4 | 范围:室温~320℃,小读数单位:1℃, 重复性:±1℃(<200℃),±2℃(≥200℃) |
显微熔点仪(数显) | X-4A | 范围:室温~320℃,小读数单位:0.1℃, 重复性:±1℃(<200℃),±2℃(≥200℃) |
显微熔点仪(数显) | X-4B | 范围:室温~320℃,小读数单位:0.1℃, 重复性:±1℃(<200℃),±2℃(≥200℃) 双目体式显微镜,光学放大倍数:40倍-100倍 |
滴点软化点测定仪 (程控、液晶数显) | WQD-1A | 范围:室温~300℃ 小读数单位:0.1℃ |