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金属薄膜四探针电阻率测试仪
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生产厂家ROOKO[瑞柯微]仪器经营--专注于粉体和材料测试与分析仪器的产销及服务;产品服务于科研、院校、实验室及企业研发部门;“质量为本、服务先行”之经营理念;致力于创新为客户提供解决方案;坚持差异化经营,求同存异;以创新,改变认知,提升品质为使命;采用新技术、新方法、提升客户价值为全员谋福祉为愿景;坚持修己、求进、创新为价值观;与广大用户共进步,共发展.目前经营如下系列产品:
1.粉体、颗粒测试仪器系列;2.材料电性能测试仪系列;3.流变仪和粘度计系列;
4.热分析仪器系列.
1.粉体、颗粒测试仪器系列:
粉末流动性测试仪,堆密度仪,粉体综合特性测试仪,粉体屈服强度测试仪.粉体流变仪,粉末电阻率测试仪,休止角测定仪,安息角测定仪,松装密度测定仪,振实密度仪,斯柯特容量计,霍尔流速计,表观密度测定仪,颗粒强度测定仪.
2.导体/半导体/绝缘材料电性能测试系列:
材料表面/体积电阻率测试仪、四探针方阻/电阻率测试仪、高温电阻率测试系统、电压降测试仪.3.流变仪和粘度计系列;4.热分析仪器系列.
一般目前的四探针电阻率(电导率)测试仪均已配置厚度的修正,通过厚度数值的设置,计算出不同的样品厚度对电阻率的影响。数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,zui常用的是直线型四探针。四根探针的针尖在同一直线上,并且间距相等,都是S,一般采用0.5mm的间距,不同的探针间距需要对测量结果做相应的校正。可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻(简称方阻),换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。
金属薄膜四探针电阻率测试仪
仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校功能;自动转换量程;测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成,故定位准确、游移率小、寿命长;测试结果由数字表头直接显示。在计算机控制下进行两次电测量,能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。因而每次测量不必知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测量都是对几何因素的影响进行动态的自动修正,测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据,把采集到的数据在计算机中加以分析,然后把测试数据以表格,图形直观地记录、显示出来。
恒流源:
输出电流:DC 0.1mA~10mA分两档
10mA量程:0.1~1mA 连续可调
10mA量程:1mA ~10mA连续可调
恒流精度:各档均优于±0.1%
适合测量各种厚度的硅片
基本技术参数
1.测量范围、分辨率
电 阻: 1.0×10-3~ 200.0×103 Ω, 分辨率0.1×10-3~ 0.1×103 Ω
电 阻 率: 1.0×10-3~ 20.0×103Ω-cm 分辨率0.1×10-3~ 0.1×103 Ω-cm
方块电阻: 10.0×10-3~ 200.0×103Ω/□ 分辨率1.0×10-3~ 0.1×103 Ω/□
测量范围:0~199.9mv,灵敏度:100μv,准确度:0.2%(±2个字),供电电源:AC:220V ±10% 50/60HZ 功率8W
使用环境:
相对湿度≤80%
重量、体积
重量:2.2 公斤
体积:宽210×高100×深240(mm)
产品特点:
■ 四探针:一次测量,显示完整电阻率值。
■ 采用了*的恒流源技术,能够满足宽范围的电阻率测试要求
■电阻率测量:大屏幕清晰显示硅料电阻率值,方便检料工快速分选
■ 电流测量:本仪器采用良好芯片技术,可通过调节硅材料厚度,仪器可直接锁定电流,使测量使用更加简便准确,本仪器可根据需要配备测试平台, 利用测试平台可以测试薄片电阻率
注意事项:
1、仪器不使用时请切断电源,连接线无需经常拔下,避免灰尘进入航空插引起短接等现象,
2、探针笔测试结束,套好护套,避免人为断针
3、仪器操作前请您仔细阅读使用说明书,规范操作
4、轻拿轻放,避免仪器震动,水平放置,垂直测量
量程划分及误差等级
量程 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 |
kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | |||||
误差 | 基本误差±0.5%FSB±5LSB(在各量程范围内),超量程或欠量程可测量,但误差将随超欠程度而变大 |