Dektak XTL 探针式轮廓仪-化工仪器网-手机站

铂悦仪器（上海）有限公司

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岩芯分析仪，微区X射线荧光光谱仪，直读光谱仪,手持式合金分析仪;Bruker台阶仪,光学轮廓仪,摩擦磨损仪,原子力显微镜;膜厚仪，艺术与考古分析仪

铂悦仪器自2004年成立以来，凭借与世界各大仪器品牌的战略合作关系，以及不断优化公司自身经营管理，提高服务质量，成为中国国内的仪器供应商。铂悦仪器所提供的产品均属于高科技行业，产品包括高精度的分析仪器、检测仪器和生产设备，以及配套的耗材和配件，这些产品广泛应用于工业、环境、食品、生物、地质、半导体、太阳能、医药、医疗器械、艺术考古、刑侦等各个领域并服务于各大院校、研究所、检测机构、及政府部门等。

铂悦仪器不仅拥有高品质的产品，更培养了专业的销售、应用支持和售后服务团队。本着客户至上的原则，从客户的实际需求出发，铂悦仪器为客户提供仪器销售，安装培训，应用支持，代检测服务及仪器短期租赁服务等综合解决方案，并提供持续而良好的售后服务，由此也获得了广大客户的信任与认可。

企业文化Corporate Culture： CREDIT

C- Confidence: 自信

R- Responsibility: 责任心

E- Efficiency: 效率

D- Diligence: 勤奋

I- Intelligence: 机智

T- Trust: 信任

铂悦仪器持续为您提供：仪器销售，安装培训，应用支持，代检测服务及仪器短期租赁服务。

行业涵盖：

工业、环境、食品、生物、地质、半导体、太阳能、医药、医疗器械、艺术考古、刑侦

应用范围：

材料成份分析（定性/定量）
大面积材料元素分布
材料表面/形貌分析
3D扫描--快速3D成像
CT--3D内部结构分析
太阳能IV检测

产品：

-- 直读光谱仪
-- 手持式XRF分析仪 S1 TITAN
-- 科研级手持式XRF分析仪TRACER
-- 便携式荧光光谱仪 ELIO
-- 便携台式XRF分析仪 CTX
-- 微区X射线荧光光谱仪-元素扫描M4 TORNADO
-- 岩芯分析仪
-- 台阶仪、光学轮廓仪、原子力显微镜AFM
-- 台式X射线荧光测厚仪
-- X射线透射系统/3D断层扫描系统（CT ）
-- 3D扫描仪
-- 便携式IV曲线检测仪

详细信息

探针式轮廓仪系统Dektak XTL.jpg

探针式轮廓仪是一种用于化学、材料科学、电子与通信技术、化学工程领域的分析仪器。分析样品表面大尺寸三维形貌，探测样品厚度。

布鲁克公司的新型DektakXTL探针式轮廓仪系统可容纳多大350mm*350mm的样品，将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片及面板制造业。DektakXTL集成气体隔振装置和方便的交互锁装置使仪器在全封闭工作环境下运行，是当今要求苛刻的生产环境的理想之选。它的双摄像头设置使空间感增强，其高水平自动化可生产量。

探针式轮廓仪系统DektakXTL产品特性

一、Bruker公司的双摄像头控制系统

1.通过点击实时视频更快锁定到关注点

2.通过选择实时视频中的两个点快速定位样品（自动旋转使连线水平）

3.通过在实时视频中点击扫描起始和结束位置简化测量设置（教学）

二、自动化设置和操作

1.借助300毫米的自动化编码XY工作台以及360度旋转能力，编程控制无限制测量位置。

2.利用带图形识别功能的Vision64位产品软件减少使用中的定位偏差

3.将自定义用户提示以及其它元数据编入您的方案中，并存储到数据库内

三、方便的分析和数据采集

1.快速分析仪支持大部分常用分析方法，可轻松实现分析程序自动化

2.通过台阶检测功能将分析集中于复杂样品上感兴趣的特征

3.通过赋予每个测量点名称并自动记录到数据库来简化数据分析

4.Dektak在大样品制造业中的传奇性能

四、业界自动分析软件

新增软件功能使DektakXTL成为市面上易使用的探针式轮廓仪。系统使用的Vision64软件,与Bruker公司的光学轮廓仪*兼容。Vision64软件可以进行样品任何位置测量、3D绘图以及借助数百个内置分析工具实现的高度定制表征方法。也可以使用VisionMicroform软件来测量曲率半径等形状。

五、探针式检测技术

图形识别功能可以尽量减少操作员误差并测量位置精度。在同一软件包内，以直观流程进行数据采集和2D、3D分析。每个系统都带有Vision软件许可证，可在装有Windows7操作系统的个人电脑上安装，用户可在电脑桌面上创建数据分析和报告。

DektakXTL拥有超过40年的探针经验和软件定制生产经验，符合现在和未来的严格的行业发展蓝图。