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ICP发射光谱仪DGS-III
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生产厂家上海泰伦分析仪器有限公司是专业研究开发分析仪器的制造公司,是武汉泰瑞分析仪有限公司控股的全资子公司,现已发展为集开发、生产、销售和技术服务于一体的高科技规模企业。公司拥有的管理人员和专业技术人员.特别是在电感耦合等离子发射光谱仪的研发方面,公司的技术人员有着30多年的研究、开发和应用实际经验,拥有国内的仪器制造和应用分析专家具有雄厚的光谱仪研发实力。
主要业务有:ICP光谱仪,ICP等离子光谱仪,发射光谱仪,ICP发射光谱仪,单道扫描光谱仪,等离子光谱仪,电感耦合等离子发射光谱仪。
泰伦分析仪器开发出的DGS-III型电感耦合等离子发射光谱仪,所有性能均优于JJG768-2005(中华人民共和国国家发射光谱仪计量检定规程)A类标准,其主要技术参数达到水平。该仪器以其可靠稳定、实用灵活、高分辨率和高准确度的突出特点,优良的性价比和的售后服务,赢得了广大用户的信任。短短几年间我公司的DGS-III型ICP光谱仪用户已涵盖钢铁、矿山、有色金属及半导体材料、稀土、环保监测,大学和科研单位,高纯材料的杂质分析、工业过程控制等诸多领域。我公司将不懈努力,用心服务,不断推出使您满意的更新更好的分析仪器。
在实验室中,当您需要快速获得准确的分析结果时,您一定希望拥有一台*准确的分析仪器来满足您不断扩展的业务需求, DGS-III型电感耦合等离子发射光谱仪正是您所需要的高分辩率高性能的常规分析仪器。可分析元素周期表上七十多个元素,广泛地应用于钢铁、冶金地质、矿山、稀土、合金及半导体、有色金属材料、石油、精细化工、环保、食品、医药卫生和生物领域、高纯材料、环境检测与电池能源、电镀、农业、科研院所、大专院校和工矿企业、质量检验等领域需要检测元素的定量分析及各种材料中的杂质成份分析,仪器性能达到同类仪器的水平,是企事业单位设备。
ICP发射光谱仪DGS-III 的核心部分是高分辩率Czerny Turner单色仪光学系统。它配有3600刻线/mm或者4320刻线/mm的全息光栅,窄的入射狭缝及出射狭缝, 具有很高的分辩率和极低的杂散光,保证了系统在分析复杂基体样品时,受光谱叠加的影响减到zui小。采用直接驱动装置传动光栅,保证了极快的分析速度和好的重现性。采用40.68MHZ RF发生器以保证高的信号背景比(S/B)和很低的检出限。采用新技术设计了优良的检测系统,保证了分析质量的可靠。以上这些特点使DGS-Ⅲ 在等离子体发射光谱分析中具有非常好的检出限和任意选择分析元素的灵活性。从而可分析各种物资材料的样品成分, 特别在各种高纯材料及高纯稀土的杂质成分分析方面更具有优势。该仪器在分析指标、稳定性、分析速度、软件等各方面的技术指标均达到*水平。
ICP发射光谱仪DGS-III 的光学系统
单色仪:DGS-Ⅲ型ICP单道扫描等离子光谱仪采用焦矩为1米的Czerny Turner单色仪,光栅为高光强、高分辩率、杂散光极低的全息光栅,单色仪的设计使其对温度和压力的变化都具有*的稳定性,因此这种光学系统具有优异的分析性能。
光栅:使用110mmX80mm大面积的3600刻线/mm的全息光栅,使单色仪的入射光为可利用的较大视角的平行光,提高了光通量,因此提高了稳定性和信号强度。光栅在高分辩率的条件下也可采集到足够的光,短的测量时间即可满足需要,从而减少了所需测量的样品量。由于杂散光极低,显著提高了S/B,改善了检出限。
分辩率:光谱仪的分辩率决定了仪器分辩复杂谱线的能力。高分辨率减少了建立分析方法所需的时间,有较好的检出限和较高的准确度。DGS-Ⅲ的实际分辩率为:Fe(310.030)<0.007nm。采用3600刻线/mm光栅的光谱范围为190nm—500nm,可以适用于大部分的光谱分析元素。
光栅直接驱动: DGS-Ⅲ型ICP光谱仪采用直接驱动光栅的机械传动方式,计算机控制下的自动波长参比保证波长的机械准确度总是优于0.004nm。由于*的重现性,扫描速度很快,全谱范围扫描只需7秒.光栅转动的高速度使得仪器在1分钟内可以分析15个元素,这意味着节省氩气和样品,分析速度快, 稳定性较高。
ICP发射光谱仪DGS-III 的激发光源及进样系统
激发光源:DGS-Ⅲ的激发光源为电子管震荡电路,具有功率自动调节和相位自动匹配功能,其功率输出从600W-1200W连续可调,等离子的微小波动可以由自动调节系统补偿. 40.68MHZ的等离子发生器符合国家无线电对工业频率的要求,它安装在单道扫描仪机箱内部, 构成一整体。
进样系统:进样系统采用目前上*的漩流雾室系统,他具有稳定性好,清洗速度快等优点。使分析速度更快,数据更准确。该仪器测量的短期稳定性RSD<1.5%,二小时以上的*稳定性RSD<2%。
电子检测系统和计算机:DGS-Ⅲ和计算机之间的接口是一个智能微处理系统。它负责和计算机之间的数据通讯、采集数据、控制单色仪驱动系统的精确运动,及提供光电倍增管一组高精度负高压稳压电源。
电子检测系统:
线性动态范围zui高可达1×108,足以满足ICP工作曲线校正的需要;
zui小分辩率为2.5×10-10;
PMT电流测量范围为:10-12-10-4安培;
高品质的电子系统有助降低仪器的分析检出限和提高精密度。
ICP发射光谱仪DGS-III 的计算机软件功能:
计算机为通用型,在WINDOWS操作系统下运行,计算机除执行仪器的控制外,其软件提供下列日常分析功能:
l 计算机控制扫描;
l 完整的图形软件包和绘图功能;
l 自动背景扣除和背景校正;
l 单一及复杂的元素间干扰校正;
l zui高二次多项式的回归计算;
l 数据处理。
DGS-Ⅲ型 ICP发射光谱仪检出限(ug/L 3σ)
元素 | 波长 | 检出限 | 元素 | 波长 | 检出限 |
Ag | 328.068 | 0.3 | Nb | 309.611 | 1 |
Al | 396.152 | 2 | Nd | 401.225 | 1.5 |
As | 193.696 | 8 | Ni | 221.647 | 1 |
Au | 242.795 | 1 | P | 213.618 | 6 |
B | 249.773 | 1 | Pb | 220.353 | 5 |
Ba | 445.403 | 0.3 | Pd | 340.458 | 2 |
Be | 313.042 | 0.2 | Pr | 390.844 | 2 |
Bi | 223.061 | 5 | Re | 227.525 | 3 |
Ca | 396.847 | 0.1 | Sb | 206.833 | 6 |
Cd | 214.438 | 0.3 | Sc | 361.384 | 0.5 |
Ce | 413.765 | 1.5 | Se | 196.026 | 8 |
Co | 228.616 | 1 | Si | 251.611 | 5 |
Cr | 267.716 | 2 | Sm | 359.260 | 1 |
Cu | 324.754 | 1 | Sn | 235.484 | 10 |
Dy | 353.170 | 0.3 | Sr | 407.771 | 0.15 |
Er | 337.271 | 0.3 | Ta | 226.230 | 6 |
Eu | 381.967 | 0.2 | Tb | 350.917 | 1 |
Fe | 238.204 | 1 | Ti | 334.941 | 0.2 |
Ga | 294.364 | 3 | Tl | 261.861 | 5 |
Gd | 342.247 | 0.5 | Tm | 313.126 | 0.3 |
Hf | 277.336 | 1 | V | 309.418 | 0.5 |
Ho | 345.600 | 0.5 | W | 207.911 | 4 |
La | 333.749 | 0.5 | Y | 371.030 | 0.2 |
Lu | 261.542 | 0.2 | Yb | 328.937 | 0.2 |
Mg | 279.553 | 0.2 | Zn | 213.856 | 3 |
Mn | 257.610 | 0.2 | Zr | 343.823 | 0.4 |
Mo | 202.030 | 1 |
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的价格及售后服务
该仪器借鉴了进口仪器的各家所长,具有优良的性能价格比。价格约为进口仪器的二分之一,特别适合于厂矿企业,投入较少的资金,即可以满足实际生产需要。
由于使用中文软件,对于操作使用、维修及今后的软件升级将会提供很大
的方便。
的应用范围
该仪器适用于各种金属及非金属中的元素成分分析,特别适用于各种复杂样品的分析。