半导体PCT高压加速寿命试验箱执行与满足标准
　　1. GB/T10586-1989湿热试验箱技术条件。
　　2. GB2423.3-93（IEC68-2-3）恒定湿热试验。
　　3. MIL-STD810D方法502.2。
　　4. GJB150.9-8温湿试验。
　　5. GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度、高压组合循环试验。
　　6. LEC60068-2-66试验。
　　7. JESD22-A102-B试验。
　　8. GB/T2423.40-1997试验。

半导体PCT高压加速寿命试验箱技术性能指标
　　1.温度范围: 100℃ ~ 132℃可任意设定.
　　2.湿度范围: *RH .  (饱和蒸气湿度)
　　3.压力范围: 0.0Kg/cm2~3.00Kg/cm2压力 ; ( 安全压力容量3Kg/cm2 / G = 1个环境大气压+2Kg/cm2  )
　　4.时间范围: 0 ~ 1000H
　　5.温度分布: (+/-)2.0℃%（100℃）
　　6.升温时间: RT ~ 121℃约35分钟内
　　7.加压时间: 0.0Kg/cm2 ~ 1.00Kg/cm2 约35分钟内
　　8. 循环方式: 水蒸气自然对流循环。
　　9. 测时间设置：0 ～ 999 Hr。
　　10. 加压时间：0.00kg/cm2 ～ 2.00kg/cm2约30分钟。
　　12. 升温时间: 由常温升至＋132℃约30分钟非线性空载。
　　13. 温度变化速率为空气温度平均变化速率,而非产品温度变化速率

特点
　　1. PCT高压加速寿命试验箱圆型内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业安全容器标准， 可防止试验中结露滴水设计。
　　2. PCT高压加速寿命试验箱圆幅内衬，不锈钢圆幅型内衬设计，可避免蒸气潜热直接冲击试品。
　　3. PCT高压加速寿命试验箱精密设计，气密性良好，耗水量少，每次加水可连续200h。
　　4. 自动门禁，圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制，安全门把设计，箱内有大于常压时测试们会被反压保护。
　　5. PCT高压加速寿命试验箱型packing，箱内压力愈大时，packing会有反压会使其与箱体更紧密结合，与传统挤压式*不同，可延长packing寿命。
　　6. PCT高压加速寿命试验箱实验开始前之真空动作可将原来箱内之空气抽出并吸入过滤蕊过滤之新空气（partical<1micorn）。以确保箱内之纯净度。
　　7. 临界点LIMIT方式自动安全保护，异常原因与故障指示灯显示